一种大口径相控阵天线全波束扫描的近距离测试方法

本发明是一种大口径相控阵天线全波束扫描的近距离测试方法，本发明解决了大口径相控阵天线远场测试环境难以实现以及全角度扫描测试耗时耗力的技术问题。实现包括：构建相控阵典型单元模型；采集典型单元阵中辐射场数据；依据等效对应关系得到近距离条件下所有单元阵中辐射场；计算相控阵天线远场辐射特性；评估相控阵天线不同扫描角度的辐射特性。本发明构建了相似单元组等效关系，仅需测试典型单元即可推算相控阵天线性能；测试距离从传统全阵远场缩减至单元级远场；结合馈电相位调整快速计算任意扫描角度的远场特性。显著降低了测试复杂度，保证方向图精度的同时提升了测试效率，适用于各种大口径相控阵天线的全波束性能快速评估。