在审

一种光老化检测设备及检测方法

胡简弘尧、程旭、孙鹏、陈勇、蔡雨萌、高志华、刘招成、何建宗、李振聪、裴星宇、李建标、吴宏远、赵晓燕、廖雁群
华北电力大学
胡简弘尧机构 暂无
技术领域 暂无
程旭机构 暂无
技术领域 暂无
孙鹏机构 暂无
技术领域 暂无
陈勇机构 暂无
技术领域 暂无
蔡雨萌机构 暂无
技术领域 暂无
高志华机构 暂无
技术领域 暂无
刘招成机构 暂无
技术领域 暂无
何建宗机构 暂无
技术领域 暂无
李振聪机构 暂无
技术领域 暂无
裴星宇机构 暂无
技术领域 暂无
李建标机构 暂无
技术领域 暂无
吴宏远机构 暂无
技术领域 暂无
赵晓燕机构 暂无
技术领域 暂无
廖雁群机构 暂无
技术领域 暂无

摘要

本申请实施例提供的光老化检测设备及检测方法,涉及光老化检测设备技术领域,其中,光老化检测设备包括:外壳,具有容纳腔;遮光罩,安装于容纳腔内,遮光罩与外壳围合有封闭的测试腔;温度控制装置,设置于外壳上;模拟光源,设置于测试腔内,用于产生目标光源的波长;介电测试设备,包括介电测试设备本体和测试电极,介电测试设备本体设于外壳的一侧,测试电极设置于测试腔内,测试电极用于夹持硅凝胶样品并测试硅凝胶样品的介电常数。本申请实施例提供的光老化测试设备及检测方法,能够模拟碳化硅电致发光环境,弥补了现有硅凝胶光老化实验领域的空白,利于提高测试结果的准确性。

暂无引用专利