在审
一种光老化检测设备及检测方法
胡
胡简弘尧机构 暂无
程
程旭机构 暂无
孙
孙鹏机构 暂无
陈
陈勇机构 暂无
蔡
蔡雨萌机构 暂无
高
高志华机构 暂无
刘
刘招成机构 暂无
何
何建宗机构 暂无
李
李振聪机构 暂无
裴
裴星宇机构 暂无
李
李建标机构 暂无
吴
吴宏远机构 暂无
赵
赵晓燕机构 暂无
廖
廖雁群机构 暂无
摘要
本申请实施例提供的光老化检测设备及检测方法,涉及光老化检测设备技术领域,其中,光老化检测设备包括:外壳,具有容纳腔;遮光罩,安装于容纳腔内,遮光罩与外壳围合有封闭的测试腔;温度控制装置,设置于外壳上;模拟光源,设置于测试腔内,用于产生目标光源的波长;介电测试设备,包括介电测试设备本体和测试电极,介电测试设备本体设于外壳的一侧,测试电极设置于测试腔内,测试电极用于夹持硅凝胶样品并测试硅凝胶样品的介电常数。本申请实施例提供的光老化测试设备及检测方法,能够模拟碳化硅电致发光环境,弥补了现有硅凝胶光老化实验领域的空白,利于提高测试结果的准确性。
暂无引用专利



