在审

一种IGBT器件芯片电流分时测量系统

林昊、程旭、孙鹏、陈勇、蔡雨萌、高志华、刘招成、何建宗、李振聪、裴星宇、李建标、吴宏远、赵晓燕、廖雁群
华北电力大学
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摘要

本发明公开了一种IGBT器件芯片电流分时测量系统,从驱动电路监测IGBT器件的栅极驱动信号,栅极驱动信号输入比较器同相输入端,比较器反相输入端接收可调直流源提供的参考信号,将栅极驱动信号与参考信号比较厚输出带有IGBT器件开关状态信息的数字信号至微控制器,微控制器判断IGBT器件的关断时刻,控制模拟多路复用器的各通路的切换,对IGBT器件多芯片电流分时序依次进行开通阶段电流轮换测量。解决了现有的IGBT器件芯片电流测量依赖于固定周期和占空比,不利于提高对复杂工况下IGBT器件芯片行为的响应能力的技术问题。

暂无引用专利