一种压接管接触电阻阻值测量方法、装置及用于测量压接管接触电阻阻值的试验回路

本发明公开了一种压接管接触电阻阻值测量方法、装置及用于测量压接管接触电阻阻值的试验回路，属于电缆领域，所述方法为：获取试验回路中压接管的总数、基准电缆的第一长度、基准电缆中导体的基准温度以及试验回路中除压接管长度外的电缆总长度；在工频电流通入试验回路且基准电缆的实时温度达到所述基准温度时，获取所述试验回路的回路电压、回路电流以及基准电缆的两端电压；根据所述回路电压、所述回路电流、所述两端电压、所述第一长度以及所述电缆总长度，计算得到所述试验回路的总接触电阻阻值；根据压接管的总数以及总接触电阻阻值，确定试验回路中各压接管的接触电阻阻值。通过实施本申请，能够解决现有技术无法有效测量接触电阻的问题。