一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统

1.一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统，其特征在于：包括激光器(1)、光隔离器(2)、第一光耦合器(3)、第一可调光衰减器(4)、第二可调光衰减器(5)、第三可调光衰减器(6)、长延迟光纤(7)、移频器(8)、调制驱动器、短延迟光纤(9)、第二光耦合器(10)、光电探测器(11)和频谱分析仪(12)；所述激光器(1)、光隔离器(2)、第一光耦合器(3)三者按顺序依次连接；所述第一光耦合器(3)的第一输出端口与第一可调光衰减器(4)相连接，所述长延迟光纤(7)的一端与第一可调光衰减器(4)相连接，所述长延迟光纤(7)的另一端与第二光耦合器(10)的第一输入端口相连接；所述第一光耦合器(3)的第二输出端口与第二可调光衰减器(5)和移频器(8)相连接，并利用调制驱动器进行驱动；所述移频器(8)的另一端与第二光耦合器(10)的第二输入端口相连接；所述第一光耦合器(3)的第三输出端口与第三可调光衰减器(6)相连接，所述短延迟光纤(9)的一端与第三可调光衰减器(6)相连接，所述短延迟光纤(9)的另一端与第二光耦合器(10)的第三输入端口相连接；所述第二光耦合器(10)的输出端与光电探测器(11)相连接，所述光电探测器(11)的输出端与频谱分析仪(12)相连接；通过第一光耦合器与第二光耦合器将长延迟光纤、短延迟光纤集成在一起，在使用长延迟拍频进行测量时，通过第三可调光衰减器将短延迟光纤这路的光功率衰减至0，进行短延迟拍频进行测量时，通第一可调光衰减器将长延迟光纤这路的光功率衰减至0，在使用不同的测量方式时不必更换延迟光纤；所述短延迟光纤(9)短于150m；所述第一光耦合器(3)和第二光耦合器(10)的分光比为长延迟分光比不低于50％，短延迟和移频器不高于35％。 2.根据权利要求1所述的一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统，其特征在于：所述长延迟光纤(7)长于10km。 3.根据权利要求1所述的一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统，其特征在于：所述第一光耦合器和第二光耦合器为1*3光耦合器，分光比为3∶1∶1。 4.根据权利要求1所述的一种集成长、短延迟自外差拍频的激光线宽测试系统，其特征在于：所述第一可调光衰减器(4)、第二可调光衰减器(5)和第三可调光衰减器(6)的衰减度为0.8～60dB。