1.一种基于SERS的氢气杂质痕量检测的光控结构，其特征在于，包括：控制单元(1)，所述控制单元(1)电连接激光控制电路(2)，所述激光控制电路(2)电连接激光器(3)和出射光模块(4)；所述出射光模块(4)包括：由激光控制电路(2)驱动的激光器快门(41)、设置于光路上的窄带滤光镜(42)、半波片(43)、偏振分光镜(44)，所述半波片设置于支持360°旋转的转动座(431)，所述转动座由激光控制电路(2)驱动，控制所述转动座的转动角度以控制光的偏振方向，所述偏振分光镜(44)将光分为两路，其中一路经光束吸收器(45)吸收，另一路光途经光束采样器(48)，光束采样器(48)将光采样给激光控制电路(2)的激光功率器，通过光束采样器(48)的光经扩束器(46)扩束后照向物镜(47)，光经物镜(47)照射进检测腔(5)；所述检测腔(5)上连接光接收模块(6)，所述光接收模块(6)包括瑞利散射滤光镜(61)，所述瑞利散射滤光镜(61)滤光后的光经狭缝(62)照射向用于分光的光栅(63)，所述光栅(63)将分光后的光谱照向CCD检测模块(7),所述CCD检测模块(7)连接控制单元(1)。
2.根据权利要求1所述基于SERS的氢气杂质痕量检测的光控结构，其特征在于，所述扩束器(46)和所述物镜(47)之间设置二向分色镜(49)，所述二向分色镜(49)将光分为两路，其中一路传输给用于检测光束情况的相机，另一路射向所述物镜，所述相机通过总线连接所述控制单元(1)。
3.根据权利要求1所述基于SERS的氢气杂质痕量检测的光控结构，其特征在于，所述激光器(3)采用复合激光器，多个所述窄带滤光镜(42)设置于转盘式光具座上，所述转盘式光具座连接所述控制单元(1)。
4.根据权利要求1所述基于SERS的氢气杂质痕量检测的光控结构，其特征在于，所述控制单元电连接显示器。
5.根据权利要求1所述基于SERS的氢气杂质痕量检测的光控结构，其特征在于，所述CCD检测模块(7)包括：CCD阵列和CCD外围驱动电路，其中所述CCD外围驱动电路包括：采集CCD阵列信号的放大电路、滤波电路和模数转换电路，为所述CCD阵列和所述模数转换电路提供时钟信号和为所述CCD阵列提供驱动信号的CPLD，为所述CCD阵列、所述模数转换电路和所述CPLD供电以及为所述CCD阵列提供参考电压的多级供电电路，所述CPLD连接所述模数转换电路的输出，所述CPLD连接所述控制单元(1)。
6.一种基于SERS的氢气杂质痕量的检测装置，应用权利要求1-5任一所述的基于SERS的氢气杂质痕量检测的光控结构，其特征在于，包括：检测腔(5)内设置能够吸附氢气且增强拉曼散射的氢敏SERS复合衬底(8)，所述检测腔(5)经设置第一电子阀门的管路连接负压泵(9)，所述检测腔(5)的进气通道经设置第二电子阀门的管路连接进气口，所述进气口设置过滤器，所述检测腔(5)内设置气压传感器，所述负压泵(9)、所述气压传感器、所述第一电子阀门和所述第二电子阀门连接控制单元(1)。
7.根据权利要求6所述基于SERS的氢气杂质痕量的检测装置，其特征在于，所述氢敏SERS复合衬底(8)包括孔隙率大于90％、平均孔径为50-100nm的三维碳管结构，形成三维碳管结构的碳纳米管薄膜的厚度为20-40μm、密度为0.5-1g/cm 3 。
8.根据权利要求7所述基于SERS的氢气杂质痕量的检测装置，其特征在于，三维碳管结构中设置形状包括：球型、壳型、杆型、片型、笼型、星型、盘型、框型和花型中的任意一种或几种的用于促进SERS的贵金属纳米颗粒。
9.根据权利要求6所述基于SERS的氢气杂质痕量的检测装置，其特征在于，所述检测腔(5)外设置恒温机构，所述检测腔(5)内设置温度传感器，所述恒温机构采用半导体制冷器，所述恒温机构和所述温度传感器电连接所述控制单元。
10.根据权利要求6所述基于SERS的氢气杂质痕量的检测装置，其特征在于，激光器(3)处设置散热翅片，所述散热翅片延伸至出气通道中，所述负压泵(9)的出气口接通所述出气通道，所述出气通道中设置有散热扇。
