1.一种灯丝的校准方法，用于校正X射线发生器中灯丝的采样电流与射线发生管的管电流之间的映射关系，所述映射关系包括灯丝校正系数，所述方法包括：接通高压电源与所述射线发生管，获取所述射线发生管的采样电流，作为第一采样电流；当所述第一采样电流与预先设定的设定电流相等时，获取所述灯丝的采样电流，作为第二采样电流；根据所述第二采样电流与预先设定的灯丝预热电流，校准灯丝校正系数，其中，所述设定电流与所述灯丝预热电流之间具有设定关系。
2.根据权利要求1所述的灯丝的校准方法，其特征在于，根据所述第二采样电流与预先设定的灯丝预热电流，校准灯丝校正系数的步骤，包括：根据所述第二采样电流、预先设定的灯丝预热电流和上一次的灯丝校正系数，确定当次的灯丝校正系数，其中，当所述当次为第一次时，所述上一次的灯丝校正系数为初始设定的灯丝校正系数；将所述当次的灯丝校正系数替换所述上一次的灯丝校正系数。
3.根据权利要求1所述的灯丝的校准方法，其特征在于，预先设定灯丝预热电流的步骤，包括：获取m个实验射线发生管的采样电流，作为m个第一实验采样电流，其中，m为大于等于2的整数；当所述m个第一实验采样电流均与所述设定电流相等时，获取与所述m个实验射线发生管一一对应的m个实验灯丝的采样电流，作为m个第二实验采样电流；计算所述m个第二实验采样电流的平均值，作为所述灯丝预热电流。
4.根据权利要求1所述的灯丝的校准方法，其特征在于，预先设定灯丝预热电流的步骤，包括：采样实验射线发生管的采样电流，作为第一实验采样电流；当所述第一实验采样电流均与所述设定电流相等时，获取与所述实验射线发生管对应的实验灯丝的采样电流，作为第二实验采样电流；重复执行采样实验射线发生管的采样电流，作为第一实验采样电流；当所述第一实验采样电流均与所述设定电流相等时，获取与所述实验射线发生管对应的实验灯丝的采样电流，作为第二实验采样电流n次，得到n个第二实验采样电流，其中，n为大于等于2的整数；计算所述n个第二实验采样电流的平均值，作为所述灯丝预热电流。
5.根据权利要求1所述的灯丝的校准方法，其特征在于，所述设定电流为：额定电流的10％、额定电流的20％、额定电流的30％、额定电流的40％、额定电流的50％、额定电流的60％、额定电流的70％、额定电流的80％、额定电流的90％或者额定电流。
6.一种灯丝的校准装置，用于校正X射线发生器中灯丝的采样电流与射线发生管的管电流之间的映射关系，所述映射关系包括灯丝校正系数，所述装置包括：第一采样模块，所述第一采样模块用于接通高压电源与所述射线发生管，获取所述射线发生管的采样电流，作为第一采样电流；第二采样模块，所述第二采样模块用于当所述第一采样电流与预先设定的设定电流相等时，获取所述灯丝的采样电流，作为第二采样电流；校准模块，所述校准模块用于根据所述第二采样电流与预先设定的灯丝预热电流，校准灯丝校正系数，其中，所述设定电流与所述灯丝预热电流之间具有设定关系。
7.一种电子设备，包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器，用于存储可执行指令，所述可执行指令在被所述处理器执行时，实现根据权利要求1~5中任一项所述的方法。
8.一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有可执行指令，该指令被处理器执行时实现根据权利要求1~5中任一项所述的方法。
9.一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序包括一个或者多个可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时实现根据权利要求1~4中任一项所述的方法。
10.一种应用权利要求1~5中任一项所述灯丝的校准方法的X射线发生器，包括：射线发生管，所述射线发生管包括内部为真空的管壳和设置在所述管壳中的阳极和阴极；高压电源，用于给所述阴极和所述阳极之间提供高压；灯丝，所述灯丝与所述阴极电连接；灯丝变压器，所述灯丝变压器与所述灯丝电连接，用于给所述灯丝提供电压。
11.一种CT设备，所述CT设备包括如权利要求10所述的X射线发生器。
