有效

基于钳位电路的短路工况动态电阻测试电路和方法

吕纲、丁晓峰、彭律章、孙铎航、单振宇、杨雁勇
北京航空航天大学
吕纲机构 暂无
技术领域 暂无
丁晓峰机构 暂无
技术领域 暂无
彭律章机构 暂无
技术领域 暂无
孙铎航机构 暂无
技术领域 暂无
单振宇机构 暂无
技术领域 暂无
杨雁勇机构 暂无
技术领域 暂无

摘要

本申请公开了一种基于钳位电路的短路工况动态电阻测试电路和方法,所述动态电阻测试电路包括:钳位电路和短路测试电路,所述钳位电路和所述短路测试电路分别与待测器件的两端相连;所述短路测试电路用于在所述待测器件的短路测试阶段为所述待测器件提供短路工况;所述钳位电路用于为测量电路提供较为稳定的测量电压等级,并在所述待测器件的动态电阻测试阶段为所述待测器件提供测试工况,能够有效测量GaN HEMT短路工况后的动态电阻衰退表征。