磁场参数确定方法、装置、计算机设备和存储介质

1.一种磁场参数确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取三轴磁场传感器基于第一磁敏感薄膜集合获取的三轴磁场第一参数，以及基于第二磁敏感薄膜集合获取的三轴磁场第二参数；其中，所述第一磁敏感薄膜集合包含两组第一磁敏感薄膜；所述第二磁敏感薄膜集合包含两组第二磁敏感薄膜；对所述三轴磁场第一参数和所述三轴磁场第二参数进行参数反解，得到三轴磁场的磁场参数。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取三轴磁场传感器基于第一磁敏感薄膜集合获取的三轴磁场第一参数，以及基于第二磁敏感薄膜集合获取的三轴磁场第二参数，包括：对第一磁敏感薄膜集合进行图形化磁敏感检测，得到所述三轴磁场第一参数；对第二磁敏感薄膜集合进行图形化磁敏感检测，得到所述三轴磁场第二参数；其中，所述三轴磁场第一参数为针对X轴磁场和Z轴磁场的参数；所述三轴磁场第二参数为针对Y轴磁场和Z轴磁场的参数。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一磁敏感薄膜集合内的两组第一磁敏感薄膜具有相反的第一斜切角；所述第二磁敏感薄膜集合内的两组第二磁敏感薄膜具有相反的第二斜切角。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，各所述第二磁敏感薄膜之间与各所述第一磁敏感薄膜之间均呈正交关系。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一磁敏感薄膜与所述第二磁敏感薄膜由三轴磁敏感材料制备而成。 6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一磁敏感薄膜与所述第二磁敏感薄膜的制备过程包括：在单晶衬底上，采用分子束外延方法，或者，脉冲激光沉积技术对三轴磁敏感材料制备进行磁敏感薄膜沉积，得到所述第一磁敏感薄膜与所述第二磁敏感薄膜。 7.一种磁场参数确定装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于获取三轴磁场传感器基于第一磁敏感薄膜集合获取的三轴磁场第一参数，以及基于第二磁敏感薄膜集合获取的三轴磁场第二参数；其中，所述第一磁敏感薄膜集合包含两组第一磁敏感薄膜；所述第二磁敏感薄膜集合包含两组第二磁敏感薄膜；各所述第二磁敏感薄膜之间与各所述第一磁敏感薄膜之间均呈正交关系；解析模块，用于对所述三轴磁场第一参数和所述三轴磁场第二参数进行参数反解，得到三轴磁场的磁场参数。 8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。 9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。 10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。