1.一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述合成试验回路包括：待测的断路器以及与所述断路器连接的电流源回路、电压源回路和调频回路；所述测试方法包括：通过所述电流源回路，向所述断路器施加等效工频短路电流；根据所述等效工频短路电流预测电流零点时刻，并在所述电流零点时刻前预设时间通过所述电压源回路，向所述断路器施加引入电流；其中，所述等效工频短路电流和所述引入电流在电流零点处的斜率相同，所述引入电流在零点处斜率与工频短路电流零点处斜率一致；控制所述电压源回路在引入电流未过零时被短路，并在所述引入电流过零后控制接入所述调频回路，向所述断路器施加恢复电压，从而完成合成试验回路的测试；其中，在所述等效工频短路电流的零点时刻断开电流源回路中的第一反并联晶闸管开关，并且所述调频回路在引入电流未过零时处于被短路状态；在所述引入电流过零后，控制接入所述调频回路，并通过所述调频回路的调频电容和调频电感，共同对所述断路器提供瞬态恢复电压和工频恢复电压。
2.如权利要求1所述的一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述电流源回路包括：升流器和第一反并联晶闸管开关；所述升流器的第一端与所述第一反并联晶闸管开关的第一端连接，所述第一反并联晶闸管开关的第二端与所述断路器的第一端连接，所述升流器的第二端与所述断路器的第二端连接。
3.如权利要求2所述的一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述电压源回路包括第一电容、第一电感和第二反并联晶闸管开关；所述第二反并联晶闸管开关的第一端与所述断路器的第一端连接，所述第二反并联晶闸管开关的第二端与所述第一电感的第一端连接，所述第一电感的第二端与所述第一电容的第一端连接，所述第一电容的第二端与所述断路器的第二端连接。
4.如权利要求3所述的一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述调频回路包括：调频电容、调频电阻和调频电感；所述调频电阻的第一端接入所述断路器的第一端，所述调频电阻的第二端与所述调频电容的第一端连接，所述调频电容的第二端与所述断路器的第二端连接，所述调频电感的第一端接入所述第一电感的第二端，所述调频电感的第二端接入所述断路器的第二端，所述断路器的第二端接地。
5.如权利要求4所述的一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述通过所述电流源回路，向所述断路器施加等效工频短路电流，具体包括：控制所述电流源回路中的第一反并联晶闸管开关闭合，从而导通所述电流源回路；通过所述电流源回路中的升流器，对所述断路器施加等效工频短路电流。
6.如权利要求5所述的一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述根据所述等效工频短路电流预测电流零点时刻，并在所述电流零点时刻前预设时间通过所述电压源回路，向所述断路器施加引入电流，具体包括：采集所述等效工频短路电流，并根据所采集的等效工频短路电流，预测电流零点时刻；在所述电流零点时刻前预设时间，控制所述电压源回路中的第二反并联晶闸管开关闭合，从而导通所述电压源回路；通过所述电压源回路的第一电容，在所述电流源回路的等效工频短路电流的零点前，对所述断路器施加与所述等效工频短路电流在零点处斜率一致的引入电流。
7.如权利要求6所述的一种基于电力电子器件的合成试验回路测试方法，其特征在于，所述根据所采集的等效工频短路电流，预测电流零点时刻，具体包括：根据所采集的等效工频短路电流，计算实际电流源回路输出的实际电流频率和周期；根据所述实际电流频率和周期，结合所述电流源回路输出的预设特征值，确定所述等效工频短路电流的目标零点；基于所述目标零点和所述实际电流频率和周期，确定电流零点时刻。
8.一种终端设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的基于电力电子器件的合成试验回路测试方法。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如权利要求1至7中任意一项所述的基于电力电子器件的合成试验回路测试方法。
