有效

一种基于开通过程栅极电流信号的IGBT缺陷检测方法及装置

袁文迁、季一润、槐青、袁茜、李雨、黄彬、杨敏祥、郝震、高岩峰、宋鹏、卢毅、谢丽芳、刘蓁
华北电力科学研究院有限责任公司

摘要

本发明提供一种基于开通过程栅极电流信号的IGBT缺陷检测方法及装置,包括基于IGBT开通过程栅极电流信号,获取IGBT实际工作时目标阶段电流波形;根据所述IGBT实际工作时目标阶段电流波形,计算得到IGBT实际工作时目标阶段栅极电容充电电荷量;根据所述IGBT实际工作时目标阶段栅极电容充电电荷量,分析判断当前IGBT是否存在栅射极回路缺陷。本发明通过IGBT开通过程栅极电流波形分析栅极充电电荷量的变化,进而判断IGBT是否发生了栅射极回路缺陷,提高了检测效率。在IGBT存在缺陷时,采用本发明的技术方案还可以知道IGBT具体存在缺陷的封装芯片数量,可以实现定量检测。