开通电流上升速率的IGBT故障确定方法及装置

本发明提供了一种开通电流上升速率的IGBT故障确定方法及装置，方法包括：根据预设的IGBT半桥电路模型，得到芯片栅极电压对芯片集电极电流的控制关系；利用芯片栅极电压对芯片集电极电流的控制关系，得到开通电流上升速率表达式；采集IGBT集电极实际电流，并根据预设电流阈值、所述IGBT集电极实际电流及所述开通电流上升速率表达式，得到IGBT流通能力值；根据所述IGBT流通能力值，确定IGBT故障状态。本发明通过观测IGBT器件开通电流上升速率来估计器件内部键合线脱落、芯片电极接触异常等缺陷，实现及时准确的确定IGBT故障，对于IGBT状态监测具有参考意义，有效保证IGBT器件安全稳定运行。