有效

一种基于开通过程栅极电压信号的IGBT缺陷检测方法及装置

季一润、槐青、袁文迁、袁茜、郝震、高岩峰、卢毅、宋鹏、李雨、杨敏祥、黄彬、刘蓁、谢丽芳
华北电力科学研究院有限责任公司

摘要

本发明提供一种基于开通过程栅极电压信号的IGBT缺陷检测方法及装置,包括:基于IGBT开通过程栅极电压信号,获取IGBT实际工作时目标阶段电压波形;根据所述IGBT实际工作时目标阶段电压波形,计算得到IGBT实际工作时目标阶段栅极回路放电时间;根据所述IGBT实际工作时目标阶段栅极回路放电时间,分析判断待测IGBT是否存在栅射极回路缺陷。本发明通过IGBT开通过程栅极电压波形分析栅极回路放电时间的变化,进而判断IGBT是否发生了栅射极回路缺陷,提高了检测效率。在IGBT存在栅射极回路缺陷时,采用本发明的技术方案还可以知道IGBT具体存在栅射极回路缺陷的封装芯片数量,可以实现定量检测。