量子检测系统、漏磁检测设备及检测方法

1.一种量子检测系统，其特征在于，包含：第一探测区；窄场传感探头，被配置为对所述第一探测区进行传感探测，包含若干间隔分布的探测位，所述探测位包含含NV色心的金刚石粒；第二探测区，其与所述第一探测区前后间隔设置；宽场成像探头，被配置为对所述第二探测区进行传感探测，包含含NV色心的基板及与其相适配放置的物镜；激光单元，被配置为向所述窄场传感探头传输第一激发光和/或向所述宽场成像探头传输第二激发光，所述第一激发光用于激励所述金刚石粒产生第一荧光信号，所述第二激发光用于激励所述基板产生第二荧光信号；微波单元，被配置为向所述窄场传感探头传输第一微波信号和/或向所述宽场成像探头传输第二微波信号；荧光采集单元，被配置为收集第一荧光信号和/或通过物镜收集第二荧光信号；数据处理模块，用于信号调节、数据处理及系统控制。 2.根据权利要求1所述的一种量子检测系统，其特征在于：所述窄场传感探头包含排成一列的含NV色心的金刚石粒，且相邻金刚石粒的传感区交叠。 3.根据权利要求2所述的一种量子检测系统，其特征在于：每个金刚石粒独立配置一光纤并粘结于光纤的一侧端面中部，所有光纤远离金刚石粒的一侧通过合束器汇聚成一个输入光路，所述第一激发光通过所述输入光路进入合束器并均分后传输至各金刚石粒。 4.根据权利要求3所述的一种量子检测系统，其特征在于：与各金刚石粒连接的光纤长度各不相同，且第一激发光被配置为脉冲光。 5.根据权利要求1所述的一种量子检测系统，其特征在于：所述基板为透光介质，基板包含正相对的第一面和第二面，所述第二面朝向物镜设置，所述第一面上均布有NV色心。 6.根据权利要求1所述的一种量子检测系统，其特征在于：所述基板为整体含NV色心的片状金刚石。 7.根据权利要求1所述的一种量子检测系统，其特征在于：还包含驱动单元，所述驱动单元用于控制宽场成像探头以及窄场传感探头的位置移动。 8.根据权利要求1所述的一种量子检测系统，其特征在于：所述荧光采集单元包含光电二极管以及宽场相机，所述光电二极管被配置为采集第一荧光信号，所述宽场相机被配置为采集第二荧光信号。 9.一种漏磁检测设备，应用了如权利要求1-8任一项所述的量子检测系统，其特征在于，还包含磁化器，所述磁化器被配置为磁化待测物以使其表面缺陷处产生漏磁场。 10.一种缺陷检测方法，应用了如权利要求1-8任一项所述的量子检测系统，其特征在于，先利用窄场传感探头对缺陷位置进行标定，再利用宽场成像探头对标定的缺陷进行整体感知并通过荧光采集单元拍摄成像。