在审
孔系零件珩磨粗糙度全要素表征方法、装置、设备及介质
梁
梁志强机构 暂无
张
张淑滢机构 暂无
李
李娟机构 暂无
王
王飞机构 暂无
魏
魏正义机构 暂无
刘
刘月红机构 暂无
杜
杜宇超机构 暂无
李
李学志机构 暂无
郭
郭琳机构 暂无
李
李泽坤机构 暂无
敖
敖日格勒机构 暂无
王
王亚娟机构 暂无
吴
吴迪机构 暂无
张
张小敏机构 暂无
王
王士良机构 暂无
奚
奚大鹏机构 暂无
摘要
本申请公开了一种孔系零件珩磨粗糙度全要素表征方法、装置、设备及介质,涉及孔系零件珩磨粗糙度表征技术领域,该方法包括:通过对灰度图像进行纹理特征提取,得到只包含波纹度信息和粗糙度信息的纹理图像,然后对频域转换后的频域图进行波纹度信息滤除,得到只包含粗糙度信息的粗糙度图像,对基于粗糙度图像的灰度信息构造Abbott‑Firestone曲线进行解析得到分别针对峰区、核心区域以及谷区三部分的要素表征参数,本申请能够全面真实地对于珩磨表面粗糙度进行表征,适用于不同零件的珩磨表面粗糙度的全要素表征。
暂无引用专利



