1.一种元素分析系统，包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正，所述尺寸包括体积，所述控制装置包括：标定模块，针对充分混合的标准样品，以不随位置变化的质量衰减系数和密度，计算标准样品的透过率；待测物料透过率计算模块，针对未充分混合的物料，以随位置变化的质量衰减系数和密度、以及所述物料的体积，计算所述物料的透过率；以及修正系数模块，通过对标准样品的透过率除以所述物料的透过率，计算自吸收修正系数。
2.根据权利要求1所述的元素分析系统，其中，根据高能射线的透明度与低能射线的透明度，确定物料的质量衰减系数和密度。
3.根据权利要求2所述的元素分析系统，其中，根据高能射线与低能射线的对数透明度之比、或者基于高能射线与低能射线的透明度的Alpha曲线，确定物料的质量衰减系数和密度。
4.根据权利要求2所述的元素分析系统，其中，所述控制装置包括X射线扫描信息获取部，所述X射线扫描信息获取部包括：接收模块，接收X射线扫描设备的探测器分别检测的高能档的X射线穿过所述物料之前和之后的强度、以及低能档的X射线穿过所述物料之前和之后的强度；双能透明度计算模块，针对高能档和低能档，基于X射线穿过所述物料之前和之后的X射线强度，分别计算出高能档的透明度和低能档的透明度；透明度比较参数计算模块，基于高能档的透明度和低能档的透明度，计算高能档的透明度和低能档的透明度的对数透明度之比作为透明度比较参数，或者计算高能档的透明度的Alpha变换值、低能档的透明度的Alpha变换值、以及两者的差值，作为透明度比较参数；确定模块，基于所述透明度比较参数，确定所述物料的质量衰减系数和密度；以及尺寸计算模块，基于物料的质量衰减系数和密度以及X射线穿过所述物料之前和之后的强度，计算出物料的厚度。
5.根据权利要求4所述的元素分析系统，其中，所述物料的尺寸还包括物料的宽度，所述宽度通过统计X射线扫描设备的探测器阵列所检测到的X射线图像中的宽度方向上的像素来获得。
6.根据权利要求1所述的元素分析系统，其中，所述控制装置包括修正系数计算部，所述修正系数计算部包括：所述标定模块、所述待测物料透过率计算模块以及修正系数模块。
7.根据权利要求4所述的元素分析系统，其中，所述X射线扫描信息获取部还包括质量计算模块，所述质量计算模块基于对标准样品的标定求出质量修正因子，基于所述质量修正因子和所述物料的各位置上的密度，求出所述物料的实际质量。
8.一种元素分析方法，包括：基于双能的X射线扫描，获得各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，所述尺寸包括体积；根据获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算出自吸收修正系数，根据获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算出自吸收修正系数包括：针对充分混合的标准样品，以不随位置变化的质量衰减系数和密度，计算标准样品的透过率；针对未充分混合的所述物料，以随位置变化的质量衰减系数和密度、以及所述物料的体积，计算所述物料的透过率；以及通过对标准样品的透过率除以所述物料的透过率，计算自吸收修正系数。
9.根据权利要求8所述的元素分析方法，其中，根据高能射线的透明度与低能射线的透明度，确定物料的质量衰减系数和密度。
10.根据权利要求9所述的元素分析方法，其中，根据高能射线与低能射线的对数透明度之比、或者基于高能射线与低能射线的透明度的Alpha曲线，确定物料的质量衰减系数和密度。
11.根据权利要求9所述的元素分析方法，其中，基于X射线扫描，获得各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度包括：接收X射线扫描设备的探测器分别检测的高能档的X射线穿过所述物料之前和之后的强度、以及低能档的X射线穿过所述物料之前和之后的强度；针对高能档和低能档，基于X射线穿过所述物料之前和之后的X射线强度，分别计算出高能档的透明度和低能档的透明度；基于高能档的透明度和低能档的透明度，计算高能档的透明度和低能档的透明度的对数透明度之比作为透明度比较参数，或者计算高能档的透明度的Alpha变换值、低能档的透明度的Alpha变换值、以及两者的差值，作为透明度比较参数；基于所述透明度比较参数，确定所述物料的质量衰减系数和密度；以及基于物料的质量衰减系数和密度以及X射线穿过所述物料之前和之后的强度，计算出物料的厚度。
12.根据权利要求11所述的元素分析方法，其中，所述物料的尺寸还包括物料的宽度，所述宽度通过统计X射线扫描设备的探测器阵列所检测到的X射线图像中的宽度方向上的像素来获得。
13.根据权利要求8所述的元素分析方法，还包括：基于对标准样品的标定求出质量修正因子，基于所述质量修正因子和所述物料的各位置上的密度，求出所述物料的实际质量。
14. 一种元素分析装置，包括：X射线扫描信息获取部，基于双能的X射线扫描，获得各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度；以及修正系数计算部，根据获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算出自吸收修正系数，所述修正系数计算部包括：标定模块，针对充分混合的标准样品，以不随位置变化的质量衰减系数和密度，计算标准样品的透过率；待测物料透过率计算模块，针对未充分混合的物料，以随位置变化的质量衰减系数和密度、以及所述物料的体积，计算所述物料的透过率；以及修正系数模块，通过对标准样品的透过率除以所述物料的透过率，计算自吸收修正系数。
15.一种元素分析程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求8至13中的任一项所述元素分析方法中的步骤。
