1.一种应用于光纤激光器的自适应调整光电检测方法，其特征在于，应用于一种自适应调整光电检测电路，所述自适应调整光电检测电路包括：光电检测电路、MCU以及存储器；所述光电检测电路放置在所述光纤激光器的光路监测点上；所述光电检测电路包括光电二极管D1、跨阻放大器以及比例放大器；所述比例放大器包括运算放大器U2、电阻R1和可变电阻R2；所述光电二极管D1的正极连接所述跨阻放大器的输入端；所述光电二极管D1的负极连接电源VCC；所述跨阻放大器的输出端连接所述电阻R1的一端；所述电阻R1的另一端分别连接所述可变电阻R2的第一固定接点以及所述运算放大器U2的反向输入端；所述运算放大器U2的正向输入端接地；所述运算放大器U2的输出端分别与所述可变电阻R2的第二固定接点以及所述MCU的ADC模块连接；所述MCU还分别与所述可变电阻R2的可调接点以及所述存储器通讯连接；所述自适应调整光电检测方法包括：MCU根据光纤激光器的出光档位设置光电检测电路输出的给定值；MCU内部的ADC模块对光电检测电路的实际输出值进行采样，经PI控制算法调整可变电阻R2的阻值，直至实际输出值达到给定值，将此时可变电阻R2的阻值写入存储器中；光纤激光器使用时，MCU根据当前出光档位读取存储器中相应的保存阻值并调整可变电阻R2的阻值与所述保存阻值一致。
2.根据权利要求1所述的自适应调整光电检测方法，其特征在于，所述跨阻放大器包括运算放大器U1、电阻RF和电容CF；所述运算放大器U1的反向输入端分别连接所述光电二极管D1的正极、所述电阻RF的一端以及所述电容CF的一端；所述运算放大器U1的正向输入端接地；所述运算放大器U1的输出端、所述电阻RF的另一端以及所述电容CF的另一端均连接所述电阻R1的一端。
3.根据权利要求1所述的自适应调整光电检测方法，其特征在于，所述可变电阻R2采用数字电位计。
4.根据权利要求1所述的自适应调整光电检测方法，其特征在于，所述光电检测电路输出的给定值在ADC模块饱和值的1/3至2/3范围。
5.根据权利要求1所述的自适应调整光电检测方法，其特征在于，所述MCU通过相应的通讯协议来控制存储器的写入。
6.根据权利要求1所述的自适应调整光电检测方法，其特征在于，所述MCU通过相应的通讯协议来调整可变电阻R2的阻值。
7.一种应用于光纤激光器的自适应调整光电检测方法，其特征在于，应用于一种自适应调整光电检测电路，所述自适应调整光电检测电路包括：光电检测电路、MCU以及存储器；所述光电检测电路放置在所述光纤激光器的光路监测点上；所述光电检测电路包括光电二极管D1、跨阻放大器以及比例放大器；所述比例放大器包括运算放大器U2、可变电阻R1和电阻R2；所述光电二极管D1的正极连接所述跨阻放大器的输入端；所述光电二极管D1的负极连接电源VCC；所述跨阻放大器的输出端连接所述可变电阻R1的第一固定接点；所述可变电阻R1的第二固定接点分别连接所述电阻R2的一端以及所述运算放大器U2的反向输入端；所述运算放大器U2的正向输入端接地；所述运算放大器U2的输出端分别与所述电阻R2的另一端以及所述MCU的ADC模块连接；所述MCU还分别与所述可变电阻R1的可调接点以及所述存储器通讯连接；所述自适应调整光电检测方法包括：MCU根据光纤激光器的出光档位设置光电检测电路输出的给定值；MCU内部的ADC模块对光电检测电路的实际输出值进行采样，经PI控制算法调整可变电阻R1的阻值，直至实际输出值达到给定值，将此时可变电阻R1的阻值写入存储器中；光纤激光器使用时，MCU根据当前出光档位读取存储器中相应的保存阻值并调整可变电阻R1的阻值与所述保存阻值一致。
8.根据权利要求7所述的自适应调整光电检测方法，其特征在于，所述跨阻放大器包括运算放大器U1、电阻RF和电容CF；所述运算放大器U1的反向输入端分别连接所述光电二极管D1的正极、所述电阻RF的一端以及所述电容CF的一端；所述运算放大器U1的正向输入端接地；所述运算放大器U1的输出端、所述电阻RF的另一端以及所述电容CF的另一端均连接所述可变电阻R1的第一固定接点。
