超椭球面上的均匀采样方法及装置

本发明涉及数据采样技术领域，是一种超椭球面上的均匀采样方法及装置。该采样方法基于超椭球面E构建两个超椭球空间E和E，E被包含于E和E的交集空间E，采用Gibbs采样方法对E进行多次均匀采样，获取符合预设个数的且位于E的均匀分布样本点，按该样本点的径向投影至E上，得到最终样本点x。本发明可在保证采样结果均匀性的同时，较快速地实现超椭球面上的均匀采样；随着维度的增加拒绝率反而降低，可极大地提升采样效率；为目前机器学习、基于数据驱动的算法、生物医学、天体物理等领域提供支撑和手段，能够提高所开发算法的性能。