1.一种太赫兹源的精确相位噪声测量方法，其特征在于，包括：获取待测太赫兹源输出的第一待测信号和第二待测信号；所述第一待测信号和第二待测信号的相位噪声位于同一量级，所述第一待测信号和第二待测信号的频率差位于微波频段；获取本振信号源输出的本振信号；基于所述本振信号，在平行路径下分别对所述第一待测信号和所述第二待测信号执行谐波混频操作，得到第一微波信号和第二微波信号；对所述第一微波信号和所述第二微波信号执行基波混频操作，生成目标微波信号；基于所述目标微波信号，标定所述待测太赫兹源的噪声参数。
2.根据权利要求1所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量方法，其特征在于，所述第一待测信号为： ；所述第二待测信号为： ；其中， A 为第一待测信号幅度， 为第一待测信号频率， 为第一待测信号相位噪声； B 为第二待测信号幅度， 为第二待测信号频率， 为第二待测信号相位噪声； exp 为以e为底数的指数函数； t 为获取第一待测信号和第二待测信号的时间。
3.根据权利要求2所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量方法，其特征在于，所述基于所述本振信号，在平行路径下分别对所述第一待测信号和所述第二待测信号执行谐波混频操作，得到第一微波信号和第二微波信号包括：基于所述本振信号，在第一路径下将所述第一待测信号与倍频后的本振信号混频，生成第一微波信号；所述第一微波信号为： ；基于所述本振信号，在第二路径下将所述第二待测信号与倍频后的本振信号混频，生成第二微波信号，所述第一路径与第二路径为相互平行的路径；所述第二微波信号为： ；其中， 为本振信号频率， N 为倍频因子， 为倍频后本振信号的相位噪声。
4.根据权利要求3所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量方法，其特征在于，所述对所述第一微波信号和所述第二微波信号执行基波混频操作，生成目标微波信号包括：放大所述第一微波信号和所述第二微波信号；对放大后的所述第一微波信号和所述第二微波信号执行基波混频操作，生成目标微波信号；所述目标微波信号为： 。
5.根据权利要求4所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量方法，其特征在于，所述噪声参数包括：所述目标微波信号的中心载频和相位噪声；所述目标微波信号的中心载频为： ；所述目标微波信号的相位噪声为： 。
6.一种太赫兹源的精确相位噪声测量系统，其特征在于，包括：第一太赫兹谐波混频器（1），所述第一太赫兹谐波混频器（1）用于对第一待测信号执行谐波混频操作，生成第一微波信号；第二太赫兹谐波混频器（2），所述第二太赫兹谐波混频器（2）用于对第二待测信号执行谐波混频操作，生成第二微波信号；本振信号源（3），所述本振信号源（3）与所述第一太赫兹谐波混频器（1）、第二太赫兹谐波混频器（2）电连接，用于提供倍频后的本振信号；微波基波混频器（4），所述微波基波混频器（4）与所述第一太赫兹谐波混频器（1）、第二太赫兹谐波混频器（2）电连接，用于接收所述第一微波信号、第二微波信号，并对所述第一微波信号、第二微波信号执行基波混频操作，生成目标微波信号；相噪分析仪（5），所述相噪分析仪（5）与所述微波基波混频器（4）电连接，用于根据所述目标微波信号，标定待测太赫兹源的噪声参数。
7.根据权利要求6所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量系统，其特征在于，所述系统还包括：第一微波电放大器（6），所述第一微波电放大器（6）与所述第一太赫兹谐波混频器（1）、微波基波混频器（4）电连接，用于放大所述第一微波信号。
8.根据权利要求6所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量系统，其特征在于，所述系统还包括：第二微波电放大器（7），所述第二微波电放大器（7）与所述第二太赫兹谐波混频器（2）、微波基波混频器（4）电连接，用于放大所述第二微波信号。
9.根据权利要求6所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量系统，其特征在于，所述微波基波混频器（4）包括：接收模块（41），所述接收模块（41）用于接收所述第一微波信号、第二微波信号；操作模块（42），所述操作模块（42）用于对所述第一微波信号、第二微波信号执行基波混频操作；生成模块（43），所述生成模块（43）用于生成目标微波信号并输出。
10.根据权利要求6所述的一种太赫兹源的精确相位噪声测量系统，其特征在于，所述第一太赫兹谐波混频器（1）和所述第二太赫兹谐波混频器（2）的带宽覆盖为10THz；所述本振信号源（3）的频率范围覆盖为10GHz—50GHz，倍频因子为10至20范围内任意数值。
