一种绝缘材料受潮老化状态评估方法、系统、设备及介质

本发明属于绝缘材料老化状态评估技术领域，公开一种绝缘材料受潮老化状态评估方法、系统、设备及介质，包括：获取不同老化试验下试样的介电频谱曲线，并提取频域介电谱的特征量；基于试样的试验数据，评估老化时间、老化温度、含水量及特征量之间的相互关系，并建立单因素老化状态模型；基于热‑潮双因素与测量误差分析，通过拟合计算得到修正函数，并建立热‑水联合老化模型，评估绝缘材料的受潮老化状态。本发明通过测量介电频谱曲线和建立关系模型，可以准确地评估绝缘材料的老化程度；不仅可以用于热‑潮双因素下的老化评估，还可推广至其他影响因素，为绝缘材料老化状态的综合评估提供了可靠的技术支持。