在审
用于对扫描成像设备进行几何标定的标定方法和系统
陈
陈志强机构 暂无
沈
沈乐机构 暂无
张
张丽机构 暂无
邢
邢宇翔机构 暂无
赵
赵振华机构 暂无
孙
孙运达机构 暂无
摘要
提供一种用于标定扫描成像设备的标定方法,包括:通过探测器采集经过几何标定模体的射线,以获得探测器数据,其中,探测器数据包括射线经过几何标定模体后在探测器上的实际投影位置;获取初始的射线源参数和初始的探测器参数;根据初始的射线源参数、初始的探测器参数以及几何标定模体相对于射线源和探测器的位置关系,通过几何计算获得几何标定模体在探测器上的理论投影位置;构建实际投影位置和理论投影位置之间的偏差关于射线源参数和探测器参数的优化函数;根据优化函数,将偏差取值最小值时对应的射线源参数和探测器参数确定为优化的射线源参数和优化的探测器参数,将优化的射线源参数和优化的探测器参数确定为几何标定参数。
暂无引用专利



