导电炭黑晶格参数提取方法、装置和计算机设备

本申请涉及一种导电炭黑晶格参数提取方法、装置和计算机设备。所述方法包括：获取导电炭黑的电镜原始图像，根据电镜原始图像获取二值化图像；遍历二值化图像中赋值为0的像素点，获取满足预设条件的有效像素点；对二值化图像执行补偿操作：遍历有效像素点，针对每一有效像素点，若有效像素点对应的预设区域内赋值为1的像素点占比小于第一阈值，则对预设区域内赋值为1的像素点赋值为0；若相邻的主体区域满足预设条件，则对相邻主体区域进行桥接；根据补偿操作后的二值化图像提取晶格条纹并获取晶格条纹的形状参数。采用本方法能够提高晶格条纹参数提取准确度。