在审
嵌入式操作系统自动化测试方法、装置、电子设备和介质
摘要
本发明公开了一种嵌入式操作系统自动化测试方法、装置、电子设备和介质,其中,该方法包括获取嵌入式系统源码;根据嵌入式系统源码生成嵌入式系统文件,发布至服务器;将嵌入式系统文件及其测试程序下发至上位机;触发测试,首先上电启动目标嵌入式测试设备;如果所述目标嵌入式测试设备可以正常启动,上位机将运行下发的测试程序;如果测试结果不是测试程序预设的值,或者行为不符合预期,则上传日志,通知相关开发人员;如果测试结果为通过,则返回测试结果到服务器,并上传日志文件;如果在测试中崩溃,则根据测试模块信息,自动定位引起崩溃的代码位置。解决相关技术中存在的测试覆盖率低、效率低、易受到人为因素影响的技术问题。
暂无引用专利



