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夹层结构的检测方法及检测装置
常
常铭机构 暂无
张
张丽机构 暂无
李
李亮机构 暂无
洪
洪明志机构 暂无
刘
刘哲机构 暂无
摘要
本发明公开了一种夹层结构的检测方法及检测装置,所述检测方法包括:获取待测物体的夹层结构的检测角度;根据夹层结构的检测角度,对夹层结构进行检测。由此,通过获取待测物体的夹层结构图像,可确定待测物体中夹层结构的具体位置,根据夹层结构的位置,对夹层结构进行检测,可避免待测物体中其他层对射线的干扰,进而避免射线衰减,降低检测结果的干扰,提高成像质量,进而提高检测准确度以及检测效率。
暂无引用专利



