一种老化测试用芯片夹具

本发明公开了一种老化测试用芯片夹具，包括有从下至上依次设置的夹具底座，限位片，压块总成；所述限位片中设有芯片限位槽；所述压块总成包括绝缘板、铜电极片正极、铜电极片负极以及压块，所述铜电极片正极和铜电极片负极为两个独立的铜电极片，所述铜电极片正极与铜电极片负极以一定间距布置在绝缘板上；所述激光芯片设于所述芯片限位槽中，所述激光芯片有芯片正极和芯片负极，所述铜电极片正极与所述铜电极片负极分别与待测激光芯片的芯片正极和负极相接触，所述夹具底座上表面朝向限位片的一侧设有热沉材料，所述热沉材料为金刚石或SiC。通过本发明的技术方案，使得夹具底座的耐用时间增长，散热效率增加。