有效

光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置

黄良金、陈潇、黄善旻、安毅、李浩博、唐仕晴、崔梦凡、吴函烁、杨欢、闫志平、潘志勇、杨轶、王泽锋、周朴、姜宗福、陈金宝
中国人民解放军国防科技大学
黄良金 专利 57
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件电气元件
陈潇 专利 20
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件电气元件
黄善旻 专利 13
中国人民解放军国防科技大学
光学设备测试机械部件测试物理仪器
安毅 专利 19
中国人民解放军国防科技大学
物理仪器光学设备测试激光器
李浩博 专利 6
中国人民解放军国防科技大学
物理仪器激光器激光器件
唐仕晴 专利 6
中国人民解放军国防科技大学
物理仪器光传输其它光学
崔梦凡 专利 3
中国人民解放军国防科技大学
测量与测试物理仪器激光器
吴函烁 专利 14
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件电气元件
杨欢 专利 35
中国人民解放军国防科技大学
激光器物理仪器激光器件
闫志平 专利 24
中国人民解放军国防科技大学
物理仪器光学设备光导结构
潘志勇 专利 68
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件电气元件
杨轶 专利 30
中国人民解放军国防科技大学
物理仪器光学设备测试测量与测试
王泽锋 专利 228
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件光导结构
周朴 专利 353
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件光学设备测试
姜宗福 专利 65
中国人民解放军国防科技大学
光学设备测试物理仪器激光器
陈金宝 专利 366
中国人民解放军国防科技大学
激光器激光器件光学设备测试

摘要

本申请涉及一种光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置。方法包括:将目标应用波段内不同波长的单横模激光光束以等波长间隔入射待测光纤,得到待测光纤在各个波长下的光斑图样,进而得到行列大小分别为光斑图样像素点数和采样波长数目的二维测量矩阵,对二维测量矩阵每一行数据进行傅里叶变换后相加,以得到第一高阶模相对基模的差分模式群时延测试值;根据待测光纤传输的高阶模对应的差分模式群时延理论值随纤芯‑包层折射率差变化的查找表,查找在待测光纤的纤芯直径下,最接近差分群时延测试值的差分群时延理论值,得到待测光纤的纤芯‑包层折射率差。采用本方法可实现高效、精确、非侵入的长链路光纤纤芯‑包层折射率差测量。