在审
基于绝缘衬底上硅-二维材料异质集成光电探测器及其制备方法
摘要
本发明属于半导体器件技术领域,具体为基于绝缘衬底上硅‑二维材料异质集成光电探测器及其制备方法。本发明光电探测器由基于绝缘层上硅的场效应晶体管A和基于二维薄膜材料的场效应晶体管B组合而成;晶体管A与晶体管B物理位置呈纵向垂直分布;晶体管A中的栅极与晶体管B中的漏极之间连通;晶体管B用作光探测,产生电信号通过二维二极管与晶体管A构成的高增益输出;探测过程使晶体管A阈值电压下降,沟道区电导增加,导致漏极电流的显著提升,实现一步光电探测。本发明将沟道材料从硅替换为二维材料实现量子效率的大幅提高,并具有泄漏电流低、寄生电容小,背栅电压调节等优势,此外可同时实现探测和放大信号功能,大大简化探测系统复杂度。
暂无引用专利





