在审

测试参数更新方法、装置、电子设备及存储介质

乐禹铭、李呈斌、王知恒、单联瑜、吴俊鸿、张一航
小米科技(武汉)有限公司

摘要

本公开提出一种测试参数更新方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:在监测到测试参数更新指令的情况下,确定参数更新指令的来源,根据参数更新指令的来源,确定待执行的测试参数的第一版本号,将第一版本号发送给待测设备,以指示待测设备执行第一版本号关联的第一测试参数集,能够在监测到测试参数更新指令的时,自动加载待测设备的系统测试参数集,以对待测设备的原有参数进行升级,有效降低人工进行参数更新测试的更新测试成本,提升更新测试效率,解决对待测设备执行多工况连续测试程序时更新效率低的问题。

暂无引用专利