1.一种基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于，步骤如下：步骤1、将相干可控激光光源与干涉仪（12）通过光纤接头（11）连接，转入步骤2；其中，相干可控激光光源包括依次连接的宽带白噪声源（1）、第一射频连接线（2-1）、滤波器（3）、第二射频连接线（2-2）、可调射频衰减器（4）、第三射频连接线（2-3）、射频放大器（5）、第四射频连接线（2-4）、偏置器模块（6）、第五射频连接线（2-5）、半导体激光器（9）、保偏光纤（10）；还包括通过导线（7）连接在偏置器模块（6）上的直流驱动电源（8）；保偏光纤（10）通过光纤接头（11）连接干涉仪（12）；步骤2、将多表面干涉元件（13）置于干涉仪（12）内的测试光路中，控制干涉腔长使测试光路光程大于参考光路1~3 cm，转入步骤3；步骤3、开启直流驱动电源（8），半导体激光器（9）输出长相干激光，观察干涉仪（12）中的偏振相机接收到多表面干涉条纹，调节多表面干涉元件（13）俯仰、倾斜姿态，使其对应的两组干涉条纹显示清晰，转入步骤4；步骤4、先开启宽带白噪声源（1），再开启射频放大器（5），逐步减小可调射频衰减器（4）衰减量，观察干涉仪（12）中偏振相机接收的灰度图像干涉条纹的存在情况，并在此过程中向着干涉仪（12）的测试光路光程减小方向前后移动多表面干涉元件（13），使偏振相机接收图像中存在干涉条纹，并继续减小可调射频衰减器（4）的衰减量，相干可控激光光源的相干长度随可调射频衰减器（4）的衰减量减小而缩短，当相干可控激光光源的相干长度低于多表面干涉元件（13）厚度时，光源表现为短相干光源，此时多表面干涉元件（13）上的多组干涉条纹串扰消失，转入步骤5；步骤5、重复步骤4，直到可调射频衰减器（4）衰减量达到最小时，进一步调节多表面干涉元件（13）的前后位置，使偏振相机接收图像中干涉条纹存在且对比度最佳，即多表面干涉元件（13）前表面达到干涉仪（12）的零光程差位置，通过干涉仪（12）中的偏振相机采集当前的干涉条纹图，通过四步移相算法解算获得多表面干涉元件（13）前表面的表面形貌，转入步骤6；步骤6、继续向着干涉仪（12）的测试光路光程减小方向移动多表面干涉元件（13），偏振相机接收图像中干涉条纹对比度再次最佳时，多表面干涉元件（13）后表面达到干涉仪（12）的零光程差位置，通过干涉仪（12）中的偏振相机采集当前的干涉条纹图，通过四步移相算法解算获得多表面干涉元件（13）后表面的表面形貌。
2.根据权利要求1所述的基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：在相干可控激光光源中，宽带白噪声源（1）通过第一射频连接线（2-1）与滤波器（3）连接，再经第二射频连接线（2-2）、可调射频衰减器（4）、第三射频连接线（2-3）与射频放大器（5）的输入端连接，射频放大器（5）的输出端通过第四射频连接线（2-4）与偏置器模块（6）的交流输入端连接，直流驱动电源（8）通过导线（7）与偏置器模块（6）的直流输入端连接，直流信号和交流信号经偏置器模块（6）叠加后经第五射频连接线（2-5）输入到半导体激光器（9），半导体激光器（9）通过保偏光纤（10）与光纤接头（11）连接；宽带白噪声源（1）产生宽带白噪声信号经第一射频连接线（2-1）进入滤波器（3）进行滤波，滤波后的白噪声信号经第二射频连接线（2-2）进入可调射频衰减器（4）进行信号衰减，衰减后的白噪声信号经第三射频连接线（2-3）进入射频放大器（5）进行信号功率放大，放大后的白噪声信号经第四射频连接线（2-4）进入偏置器模块（6）的交流输入端，直流驱动电源（8）产生偏置电流经导线（7）进入偏置器模块（6）的直流输入端，偏置电流和白噪声信号经偏置器模块（6）耦合后，经第五射频连接线（2-5）进入半导体激光器（9），半导体激光器（9）输出光光谱发生展宽，并通过保偏光纤（10）连接光纤接头（11）输出。
3.根据权利要求2所述基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：相干可控激光光源中的半导体激光器（9）为FP腔半导体激光器，直流电源下多纵模输出，在宽带白噪声电流作用下，输出光谱强度及相位受噪声电流调制产生光谱展宽，展宽效果与宽带白噪声强度成正相关。
4.根据权利要求3所述的基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：相干可控激光光源中的宽带白噪声源（1）通过射频电路直接产生宽带白噪声，或通过光电探测器采集放大的自发辐射ASE光信号，并转换为电信号，从而获得高斯白噪声信号。
5.根据权利要求3所述的基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：相干可控激光光源中的可调射频衰减器（4）通过单片机控制衰减量，衰减量越小，进入射频放大器（5）的宽带白噪声信号强度越高，半导体激光器（9）输出光谱展宽越宽，相干可控激光光源的相干长度越短。
6.根据权利要求3所述的基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：相干可控激光光源中的直流驱动电源（8）设置电流低于半导体激光器（9）电流-功率曲线线性区中心位置电流，高于半导体激光器（9）阈值电流，偏置电流过高会降低光谱展宽宽度，过低会导致输出光功率低。
7. 根据权利要求3所述的基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：相干可控激光光源中的偏置器模块（6）采用Bias Tee电路，将直流信号和宽带白噪声信号叠加，施加到半导体激光器（9）上，并分别对直流信号端阻交流，对交流信号端隔直流，避免信号串扰烧毁器件。
8.根据权利要求1所述的基于相干可控激光的多表面形貌测试方法，其特征在于：干涉仪（12）采用泰曼格林型或斐索型动态干涉仪，多表面干涉元件（13）为平行平板类元件。
