一种温度传感器量产快速测试系统

1.一种温度传感器量产快速测试系统，其特征在于，包括测试核心电路、测试偏置电路、温箱、上位机、控制核心板；工作时，测试偏置电路为测试核心电路中的每一块温度传感器提供电压偏置；测试核心电路放置于温箱中；控制核心板对测试核心电路中每一块温度传感器的输出端口进行触发采样，以及在校准时对测试核心电路的各端口进行推挽输出；上位机通过串口通信与控制核心板进行数据交换；上位机为运行SMEClass算法的计算机；系统将各个温度传感器的输出数据送入SMEClass算法中进行训练，SMEClass算法是通过上位机提取各个温度传感器的输出数据的数据特征，并将其进行数据匹配，其匹配对象来自标准温度-校准数据库；SMEClass算法中，用S表示数据流，St表示大小固定的数据块即指S中的第t个数据块，d表示训练基础分类器的数据块大小，EC表示集成分类器，K 表示集成分类器的容量，num表示EC中当前分类器的个数，Ei表示在第i个数据块上训练的基础分类器，L表示数据块中的有标记数据集，U表示数据块中的无标记数据集，U′表示被标记数据集；SMEClass算法将数据集S划分为具有相同大小的数据块 S ={S1,S2,S3,……,St ,St + 1, ……}；当数据集S的样本个数为d时，执行如下操作：1）先将数据块中的数据进行分离，分为有标记数据集L和无标记数据集U，再根据有标记数据集L建立决策树分类器Enum；2）根据集成分类器EC和决策树分类器Enum一同对U中的数据进行投票表决，如果有50%以上的分类器标记为c，则将此数据加标记c后加入到被标记数据集U′中；3）根据L∪U′更新决策树分类器Enum；4）重复2）、3）步直到没有可标记的数据加入时，若num<K，执行5），否则执行6）-10）；5）将Enum以在原始有标记数据集L上的分类准确率为权值加入到EC中；6）用窗口中最近的K个数据块上的已标记数据建立一个NaïveBayes分类器E′；7）用EC和E′对L∪U′中的每个实例进行分类，如果被误分类，则将这个实例加入错误缓冲区中；8）利用EC在当前数据块上的错误率et来检测概念漂移；9）如果有概念漂移，且num=K，则将缓冲区中的数据读入S中，创建一个新的分类器Enew，用它在S上的准确率作为权值，同时使用S更新EC中分类器的权值；10）若Enew的权值大于EC中最小的分类器Ek的权值，则丢弃Ek分类器，将Enew加入组成新的集成分类器。 2.根据权利要求1所述的一种温度传感器量产快速测试系统，其特征在于，控制核心板为型号XILINX XCKU3P-1FFVA676E的zynq系统板；温箱为ZCTB-40DL深井式恒温槽。 3.根据权利要求1所述的一种温度传感器量产快速测试系统，其特征在于，温度传感器的输出端口包括温度传感器的BS、F1、ADC_CHOP输出端口；测试核心电路的各端口包括测试核心电路的CLK_REF、LOAD_CYCLE、RESTN_IN、ENSET、D_IN、RESTN_SET端口。 4.根据权利要求1所述的一种温度传感器量产快速测试系统，其特征在于，该系统的工作流程如下：当整个系统上电后进行系统各个模块的初始化，之后测试核心电路、测试偏置电路、上位机、温箱、控制核心板之间建立通信，并验证通信是否正常；在各个模块通信正常之后，系统使用者开始在上位机设置温箱测试温度为35℃、测试核心电路输出异常的报警范围，之后整个系统开始工作，系统使用者可通过上位机观察此时温箱的设置温度、以及各个温度传感器的输出数据；标准温度-校准数据库是知识数据库与历史数据库合成的典型数据库进一步筛选形成的；当数据匹配之后，通过模式识别和通用规则约束下将匹配的校准的数据烧录至芯片OTP中；之后整个测试流程结束。