1.一种检测装置,其特征在于,包括:第一传送机构(10),所述第一传送机构(10)用于传送电芯(200);射线成像检测机构(20),所述射线成像检测机构(20)对所述电芯(200)进行检测;堆叠机构(30),所述堆叠机构(30)适于将所述电芯(200)堆叠成电芯组(300);第二传送机构(40),所述第二传送机构(40)用于传送所述电芯组(300);断层成像检测机构(50),所述断层成像检测机构(50)适于对所述电芯组(300)进行检测。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述射线成像检测机构(20)包括:第一发射装置(21)和第一接收装置(22),所述第一发射装置(21)与所述第一接收装置(22)相对设置。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述第一发射装置(21)为多个,多个所述第一发射装置(21)沿第一传送机构(10)的延伸方向设置。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述断层成像检测机构(50)包括:第二发射装置(51)和第二接收装置(52),所述第二发射装置(51)与所述第二接收装置(52)相对设置,且所述第二发射装置(51)与所述第二接收装置(52)可围绕被检测电芯组进行往复摆动。
5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述第二发射装置(51)与所述第二接收装置(52)围绕所述被检测电芯组进行往复摆动时具有摆动角,所述摆动角为10°-240°。
6.根据权利要求1所说的检测装置,其特征在于,还包括:角度调整机构(60),所述角度调整机构(60)适于将所述电芯组(300)转动至预设角度,其中所述预设角度为所述电芯组(300)相对所述第二传送机构(40)传送方向旋转的角度,所述预设角度为15°-75°。
7.根据权利要求1所说的检测装置,其特征在于,还包括:筛选机构,所述筛选机构包括:第一筛选模块(71),所述第一筛选模块(71)适于在所述断层成像检测机构(50)检测到所述电芯组(300)中存在不合格电芯(200)时,将所述不合格电芯(200)转移至废料区。
8.根据权利要求7所说的检测装置,其特征在于,所述筛选机构还包括:第二筛选模块(72),所述第二筛选模块(72)适于在所述射线成像检测机构(20)检测到不合格电芯(200)时,将所述不合格电芯(200)转移至废料区。
9.一种检测方法,其特征在于,适用于权利要求1-8中任一项所述的检测装置,所述检测方法包括:第一传送机构(10)传送电芯(200);射线成像检测机构(20)对电芯(200)进行检测;堆叠机构(30)将多个所述电芯(200)堆叠成电芯组(300);第二传送机构(40)传送所述电芯组(300);断层成像检测机构(50)对所述电芯组(300)进行检测。
10.一种检测方法,其特征在于,适用于权利要求6所述的检测装置,所述检测方法包括:第一传送机构(10)传送电芯(200);射线成像检测机构(20)对电芯(200)进行检测;堆叠机构(30)将多个所述电芯(200)堆叠成电芯组(300);第二传送机构(40)传送所述电芯组(300);断层成像检测机构(50)对所述电芯组(300)进行检测;所述堆叠机构(30)将多个所述电芯(200)堆叠成所述电芯组(300)之后,角度调整机构(60)将所述电芯组(300)转动至预设角度,其中,所述预设角度为15°-75°。
11.根据权利要求10所述的检测方法,其特征在于,所述断层成像检测机构(50)可同时对两电芯组(300)进行检测,其中,所述两电芯组(300)的其中一角相互靠近。
12.一种检测方法,其特征在于,适用于权利要求7所述的检测装置,所述检测方法包括:第一传送机构(10)传送电芯(200);射线成像检测机构(20)对电芯(200)进行检测;堆叠机构(30)将多个所述电芯(200)堆叠成电芯组(300);第二传送机构(40)传送所述电芯组(300);断层成像检测机构(50)对所述电芯组(300)进行检测;在所述断层成像检测机构(50)对所述电芯组(300)进行检测后,判断电芯(200)是否合格,若不合格,所述第一筛选模块(71)将所述电芯(200)转移至所述废料区。
13.一种检测方法,其特征在于,适用于权利要求8所述的检测装置,所述检测方法包括:第一传送机构(10)传送电芯(200);射线成像检测机构(20)对电芯(200)进行检测;堆叠机构(30)将多个所述电芯(200)堆叠成电芯组(300);第二传送机构(40)传送所述电芯组(300);断层成像检测机构(50)对所述电芯组(300)进行检测;在所述射线成像检测机构(20)对所述电芯(200)进行检测后,判断所述电芯(200)是否合格,若不合格,所述第二筛选模块(72)将所述电芯(200)转移至所述废料区。