芯片调试方法、装置及介质

本公开提供了一种芯片调试方法、装置及介质，可以应用于计算机领域和芯片调试领域。该芯片调试方法应用于调试控制端，包括：根据预设调试信息，构建用于调试被调试端中目标芯片的调试命令；根据被调试端的接口状态检测结果，确定用于接收调试命令的目标接口；基于与目标接口对应的目标接口协议封装调试命令，得到调试命令请求；以及向目标接口发送调试命令请求，以便被调试端根据调试命令请求实现对目标芯片的调试操作。