1.基于面元分布的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，所述方法包括：在预设粗糙度区间内根据待预估粗糙目标选取多个表面粗糙度不同的先验粗糙模型，并分别获取各所述先验粗糙模型的复雷达散射截面；获取各所述先验粗糙模型的面元偏角，根据所述面元偏角将各所述先验粗糙模型的面元进行分区，并分别统计各区间内的面元占比以及面元偏角均值的余弦值；根据各所述先验粗糙模型的复雷达散射截面、各区间内的面元占比以及面元偏角均值的余弦值构造线性方程组，并根据所述线性方程组求解得到各区间的权重因子；根据所述权重因子、预设的缩比因子以及所述待预估粗糙目标的面元参数进行反演得到所述待预估粗糙目标的雷达散射截面。
2.根据权利要求1所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，通过仿真计算或RCS测量的方式获取所述先验粗糙模型的复雷达散射截面。
3.根据权利要求2所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，各所述先验粗糙模型的面元偏角为各先验粗糙模型的粗糙表面面元法矢与光滑表面面元法矢之间的夹角。
4.根据权利要求3所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，根据所述面元偏角将各所述先验粗糙模型的面元进行分区包括：对面元偏角进行对数变换，根据变换结果所覆盖的区间等间距划分为预设个区间。
5.根据权利要求4所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，计算各区间内面元偏角均值的余弦值采用以下公式：在以上公式中，下标 p 为先验粗糙模型的编号，用来区分不同粗糙度的先验粗糙模型，下标 q 为偏角区间的编号，表示不同偏角区间， 表示第 p 个先验粗糙模型分布在第 q 个面元区间内的面元数目， 表示区间内面元偏角 的均值。
6.根据权利要求5所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，根据各所述先验粗糙模型的复雷达散射截面、各区间内的面元占比以及面元偏角均值的余弦值构造线性方程组为：在以上公式中， 表示第 p 个先验粗糙模型分布在第 q 个面元区间内的面元占比， 表示各区间内的面元偏角均值的余弦值， 表示各所述先验粗糙模型在观测角度为 时的复雷达散射截面， 表示所需要求解的各区间的权重因子。
7.根据权利要求6所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，根据所述权重因子、预设的缩比因子以及所述待预估粗糙目标的面元参数进行反演得到所述待预估粗糙目标的雷达散射截面包括：将所述权重因子、预设的缩比因子以及待预估粗糙目标的面元参数代入以下公式中，求解得到所述待预估粗糙目标的复雷达散射截面；再根据复雷达散射截面得到所述待预估粗糙目标的雷达散射截面；在以上公式中， 表示所述待预估粗糙目标不同区间面元的面元占比， 表示所述待预估粗糙目标的面元偏角均值的余弦值， 表示权重因子， s 表示缩比因子；其中所述待预估粗糙目标不同区间面元的面元占比以及面元偏角均值的余弦值为所述待预估粗糙目标的面元参数。
8.根据权利要求1至7任意一项所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，选取的先验粗糙模型数量与各所述先验粗糙模型面元分区数量一致。
9.根据权利要求8所述的粗糙目标RCS缩比测量方法，其特征在于，所述待预估粗糙目标的粗糙度参数符合以下要求：所述待预估粗糙目标的相关长度固定、均方根高度变化，其中均方根高度 的取值范围为 ，相关长度 在 范围内选取某一固定值；或所述待预估粗糙目标的相关长度随均方根高度变化而变化，其中均方根高度 的取值范围为 ，相关长度 。
10.一种基于面元分布的粗糙目标RCS缩比测量装置，其特征在于，所述装置包括：先验模型RCS获取模块，用于在预设粗糙度区间内根据待预估粗糙目标选取多个表面粗糙度不同的先验粗糙模型，并分别获取各所述先验粗糙模型的复雷达散射截面；先验模型面元参数获取模块，用于获取各所述先验粗糙模型的面元偏角，根据所述面元偏角将各所述先验粗糙模型的面元进行分区，并分别统计各区间内的面元占比以及面元偏角均值的余弦值；权重因子求解模块，用于根据各所述先验粗糙模型的复雷达散射截面、各区间内的面元占比以及面元偏角均值的余弦值构造线性方程组，并根据所述线性方程组求解得到各区间的权重因子；待预估粗糙目标RCS获取模块，用于根据所述权重因子、预设的缩比因子以及所述待预估粗糙目标的面元参数进行反演得到所述待预估粗糙目标的雷达散射截面。
