有效

基于分子动力学模拟测试硅基太阳电池表面粗糙度的方法

严辉、李汶玲、郑子龙、楚飞鸿、周荣锟、张美玉、张永哲、王如志
北京工业大学
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技术领域 暂无
李汶玲机构 暂无
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郑子龙机构 暂无
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楚飞鸿机构 暂无
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周荣锟机构 暂无
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张美玉机构 暂无
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张永哲机构 暂无
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王如志机构 暂无
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摘要

本发明公开了基于分子动力学模拟测试硅基太阳电池表面粗糙度的方法,通过Lammps软件中“deposit”沉积命令将SiH<Sub>3</Sub>基团分子作为沉积对象,使SiH<Sub>3</Sub>基团分子沉积到光滑的晶体硅基底上;即采用分子动力学模拟中的沉积命令作为加载工具,根据牛顿第二定律,分子沉积后构成分子的原子的速度会发生变化,原子间的作用力会使SiH<Sub>3</Sub>分子生长在晶体硅上,即晶体硅上面生长了氢化非晶硅薄膜;采用混合势函数描述晶体硅和SiH<Sub>3</Sub>分子中原子和原子的相互作用。该方法基于开源软件Lammps和可视化工具Ovito,在可视化结果分析后结合粗糙度公式,从而计算得出晶硅上面生长的氢化非晶硅薄膜表面粗糙度大小,为实际中制备薄膜所需要的条件提供理论指导。