1.一种电能表初始寿命预测方法，其特征在于，包括：获取电能表的元器件清单，所述元器件清单包括电能表的各元器件，以及每一元器件的类型和型号；通过对同一类型、不同型号的元器件进行加速老化试验，得到所述类型的元器件的初始寿命；获取各类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子；利用每一类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子，对所述类型的元器件的初始寿命进行调整，得到所述类型的元器件的预测寿命；基于各类型的元器件的预测寿命，确定电能表的初始寿命；获取各类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子的过程，包括：获取每一类型的元器件的累计故障数n x 和在运总数N x ；基于每一类型的元器件的所述累计故障数n x 和所述在运总数N x ，利用下述方程式计算得到所述类型的元器件的故障率D x ：D x ＝n x /N x利用下述方程式计算得到各类型的元器件对电能表寿命的影响因子f：f＝λ f (M-m)W其中，M为故障电能表的设计运行寿命，m为故障电能表的实际运行寿命，W为故障电能表的故障程度，λ f 为预设的调整系数；所述故障电能表的故障程度的计算过程，包括：利用下述方程式计算得到所述故障电能表的故障程度W：W＝W 1 W 2 /W 3W 3 ＝λ 3 n affect /t repair其中，W 1 为拆回电能表在预设的全性能测试中的不合格权值累计值，W 2 为拆回电能表在预设的元器件损坏测试中损坏的电能表数量占电能表总数量的比值，W 3 为拆回电能表的可修复程度；n affect 为受影响元器件数量，t repair 为受影响元器件的维修时间，λ 3 用于消除受影响元器件数量和维修时间的量纲影响；利用每一类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子，对所述类型的元器件的初始寿命进行调整，得到所述类型的元器件的预测寿命的过程，包括：利用下述方程式计算得到所述类型的元器件的预测寿命t' x ：t′ x ＝λt x (1-D x )/f其中，λ为预设的调整因子，t x 为所述类型的元器件的初始寿命，D x 为所述类型的元器件的故障率，f为各类型的元器件对电能表寿命的影响因子。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取电能表的元器件清单的过程，包括：利用视觉识别技术确定电能表的元器件清单，和/或，基于电能表的生产商提供的信息确定电能表的元器件清单；所述元器件包括计量芯片、电池、电解电容器、压敏电阻、液晶显示器、电阻器、光电耦合器、晶体谐振器、瞬变二极管、负荷开关、RS-485芯片、时钟芯片、微控制器和/或电流互感器；所述元器件清单还包括电能表的生产商、品类和型号，以及元器件的名称、生产商和规格。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过对同一类型、不同型号的元器件进行加速老化试验，得到所述类型的元器件的初始寿命的过程，包括：确定每一类型的元器件的正常工作条件，所述工作条件包括工作温度、工作湿度和工作电压；基于所述正常工作条件，确定每一类型的元器件的工况集合；针对同一类型的元器件，选取预设数量不同型号的元器件进行各种工况下的老化试验，得到所述类型的元器件的寿命；基于每一类型的元器件的寿命、装配前测试时间和投运前整机测试时间，确定所述类型的元器件的初始寿命。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于各类型的元器件的预测寿命，确定电能表的初始寿命的过程，包括：将各类型的元器件的预测寿命中的最小值，确定为电能表的初始寿命。
5.一种电能表初始寿命预测装置，其特征在于，包括：元器件清单单元，用于获取电能表的元器件清单，所述元器件清单包括电能表的各元器件以及每一元器件的类型和型号；元器件初始寿命单元，用于通过对同一类型、不同型号的元器件进行加速老化试验，得到所述类型的元器件的初始寿命；故障率及影响因子单元，用于获取各类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子；元器件寿命修正单元，用于利用每一类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子，对所述类型的元器件的初始寿命进行调整，得到所述类型的元器件的预测寿命；电能表初始寿命单元，用于基于各类型的元器件的预测寿命，确定电能表的初始寿命；获取各类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子的过程，包括：获取每一类型的元器件的累计故障数n x 和在运总数N x ；基于每一类型的元器件的所述累计故障数n x 和所述在运总数N x ，利用下述方程式计算得到所述类型的元器件的故障率D x ：D x ＝n x /N x利用下述方程式计算得到各类型的元器件对电能表寿命的影响因子f：f＝λ f (M-m)W其中，M为故障电能表的设计运行寿命，m为故障电能表的实际运行寿命，W为故障电能表的故障程度，λ f 为预设的调整系数；所述故障电能表的故障程度的计算过程，包括：利用下述方程式计算得到所述故障电能表的故障程度W：W＝W 1 W 2 /W 3W 3 ＝λ 3 n affect /t repair其中，W 1 为拆回电能表在预设的全性能测试中的不合格权值累计值，W 2 为拆回电能表在预设的元器件损坏测试中损坏的电能表数量占电能表总数量的比值，W 3 为拆回电能表的可修复程度；n affect 为受影响元器件数量，t repair 为受影响元器件的维修时间，λ 3 用于消除受影响元器件数量和维修时间的量纲影响；利用每一类型的元器件的故障率和各类型的元器件对电能表寿命的影响因子，对所述类型的元器件的初始寿命进行调整，得到所述类型的元器件的预测寿命的过程，包括：利用下述方程式计算得到所述类型的元器件的预测寿命t' x ：t′ x ＝λt x (1-D x )/f其中，λ为预设的调整因子，t x 为所述类型的元器件的初始寿命，D x 为所述类型的元器件的故障率，f为各类型的元器件对电能表寿命的影响因子。
6.一种电能表初始寿命预测设备，其特征在于，包括：存储器和处理器；所述存储器，用于存储程序；所述处理器，用于执行所述程序，实现如权利要求1～4中任一项所述的电能表初始寿命预测方法的各个步骤。
7.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1～4中任一项所述的电能表初始寿命预测方法的各个步骤。
