用于成像设备的标定方法、装置、成像设备

本公开提供了一种用于成像设备的标定方法，可以应用于安检技术领域和医疗诊断领域，该方法包括：根据成像设备的辐射源的靶点理论位置、探测器的探测理论位置、以及标定模体的模体位置，计算第一理论交线；基于第一理论交线、辐射源发射的射线在标定模体中的衰减系数以及成像设备中辐射源的射线能谱分布，确定针对标定模体的第一探测投影信息；以及利用第一探测投影信息、以及成像设备扫描标定模体得到的第二探测投影信息之间的差异信息，调整成像设备的参数，以便对成像设备进行标定，得到标定后的目标参数。本公开还提供了一种成像设备标定装置、成像设备。