电缆绝缘-屏蔽电气匹配性能的测试试样及其制备方法

本发明涉及一种电缆绝缘‑屏蔽电气匹配性能的测试试样及其制备方法。该测试试样包括绝缘圆片和多个屏蔽圆片，绝缘圆片的两侧分别嵌设有多个屏蔽圆片，位于绝缘圆片同一侧的多个屏蔽圆片间隔设置，绝缘圆片两侧的屏蔽圆片位置一一对应。上述测试试样在一个测试试样是形成有多个屏蔽层‑绝缘层‑屏蔽层的三明治叠层结构，一个测试试样可以进行多组平行试验，位于绝缘圆片同一侧的多个屏蔽圆片间隔设置，能够减少试验时沿面闪络的发生，避免滑闪电弧损坏相邻的屏蔽圆片。上述测试试样在保证实验顺利进行以及不损坏实验设备的情况下，大大提高了击穿实验的效率，并且减少试样制备过程的差异导致的实验误差。