1.一种基于光频率反射技术的局部谱匹配方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：输入参考光谱与测试光谱的S路和P路光谱，并进行快速傅里叶变换，得到两路光谱的频谱；利用滑动窗分别截取两路频谱数据，对滑动窗中的频谱数据进行补零和逆快速傅里叶变换，得到变换后的参考光谱和测试光谱；将变换后的参考光谱和测试光谱进行归一化处理，并选取滑动窗内预定长度的参考光谱作为局部参考光谱；以N为步频逐次选取滑动窗内所述预定长度的变换后的测试光谱作为局部测试光谱，分别计算局部测试光谱与局部参考光谱的距离，获得多组距离数据，其中N为大于1的整数；基于获得的多组距离数据选取距离最小的M组距离数据对应的M段局部测量光谱，确定所述M段局部测量光谱对应的M个起始数据点，M为大于1的整数；选取M个起始数据点的预定邻域范围内的起始数据点对应的局部测量光谱，逐一计算所述预定邻域范围内的起始数据点对应的局部测试光谱与局部参考光谱之间的距离，基于计算的距离获得最匹配的局部测量光谱的起始点；基于获得的最匹配的局部测量光谱的起始点和所述局部参考光谱的起始点确定测试光谱的频谱漂移点数，并基于确定的频谱漂移点数计算相应物理量的变化。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述滑动窗内预定长度的参考光谱为滑动窗内占参考光谱中心70％长度的光谱。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，N为10-50；预定数量个光谱点为3-10个光谱点；所述预定长度的邻域范围为1/2N至1/3N。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述相应物理量为微应变或温度。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考光谱包括P路参考光谱和S路参考光谱，所述测试光谱包括P路测试光谱和S路测试光谱；所述局部参考光谱包括局部P路参考光谱和局部S路参考光谱，所述局部测试光谱包括局部P路测试光谱和局部S路测试光谱；所述分别计算局部测试光谱与局部参考光谱的距离包括：分别计算P路局部测试光谱与P路局部参考光谱的距离以及分别计算S路局部测试光谱与S路局部参考光谱的距离；所述获得最匹配的局部测量光谱的起始点包括：获得最匹配的P路局部测量光谱的起始点以及获得最匹配的S路局部测量光谱的起始点；所述基于获得的最匹配的局部测量光谱的起始点和所述局部参考光谱的起始点确定测试光谱的频谱漂移点数，并基于确定的频谱漂移点数计算相应物理量的变化，包括：基于获得的P路最匹配的局部测量光谱的起始点和所述P路局部参考光谱的起始点确定测试光谱的第一频谱漂移点数，基于获得的S路最匹配的局部测量光谱的起始点和所述S路局部参考光谱的起始点确定测试光谱的第二频谱漂移点数，对第一频谱漂移点数和第二频谱漂移点数求平均而得到最终的物理量的变化结果。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：利用数据分布的变化趋势确定所述预定长度的邻域范围。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述局部测试光谱与局部参考光谱的光谱点间的距离满足如下公式：其中，d(j)表示光谱的残差平方和，y LRS (i)表示局部参考光谱，y LMS (i+j)表示局部测量光谱，i表示局部参考光谱索引，j表示局部测量光谱频移，n表示局部参考光谱长度。
8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于如下公式计算微应变的量：
9.一种基于光频率反射技术的局部谱匹配装置，包括处理器和存储器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机指令，当所述计算机指令被处理器执行时该装置实现如权利要求1至8中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述方法的步骤。
