1.一种具有高吸收系数的二维材料异质结结构的建模分析方法,其特征在于,所述二维材料异质结结构包括4层,自上而下依次为:单层二维材料I、单层二维材料II、单层二维材料I、单层二维材料II;二维材料I为硒化铂PtSe 2 ,二维材料II为二硫化钼MoS 2 ;所述二维材料异质结为六方晶系;所述二维材料异质结的晶格常数为 γ=120°;所述二维材料异质结禁带宽度为0.1670eV;所述建模分析方法包括以下步骤:步骤1,使用Materials Project材料库构建MoS 2 体材料模型和PtSe 2 体材料模型;步骤2,将MoS 2 体材料模型切晶面得到单层MoS 2 模型,将PtSe 2 体材料模型切晶面得到单层PtSe 2 模型;步骤3,将步骤2得到的单层MoS 2 模型和单层PtSe 2 模型垂直堆叠2周期并添加真空层 构成MoS 2 /PtSe 2 异质结模型;步骤4,对步骤3构建的MoS 2 /PtSe 2 异质结模型进行结构优化,得到的能量最低的异质结结构;步骤5,选择步骤4得到的异质结结构作为最稳定结构,进行自洽计算和非自洽计算;步骤6,处理步骤4的非自洽计算结果,计算二维材料异质结的能带结构、态密度、电子能量损失谱、介电常数、吸收系数,并对所述二维材料异质结的性能进行分析;步骤1中,MoS 2 体材料模型的空间群为P6 3 /MMC[194],晶格常数为 γ=120°;PtSe 2 体材料模型的空间群为P3M1[164],晶格常数为 γ=120°;步骤4中,对所述MoS 2 /PtSe 2 异质结进行结构优化时,截断能选取为400-600eV,k点为6*6*1,电子收敛标准设置为1e-5数量级,离子收敛标准设置为0.05;步骤4中,结构优化后的MoS 2 /PtSe 2 异质结的晶格常数为 γ=120°;步骤5中,自洽计算时,截断能选取为500eV,k点为8*8*1,离子位置优化最大步数设置为0;步骤6中,计算所述MoS 2 /PtSe 2 异质结的能带结构时,截断能选取为500eV,k路径设定为由G(0,0,0),K(0,1/2,0),M(-1/3,2/3,0)三个高对称点围成的三角形闭合路径,电子收敛标准设置为1e-5数量级,离子收敛标准设置为0.05;计算所述MoS 2 /PtSe 2 异质结的态密度时,k点为13*13*1,态密度数据点个数选取为2000,截断能不变;计算所述MoS 2 /PtSe 2 异质结的光学性质时,k点为15*15*1,总能带数量设定为80,截断能不变。