1.一种半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,该方法包括:S1、根据LD泵浦源实际光谱性质,根据(1)式对实际等效吸收截面进行修正;其中,σ(λ)为Nd:YAG吸收截面情况,n 0 为Nd:YAG晶体掺杂浓度;L为晶体泵浦光有效吸收长度;f(λ)为泵浦光光谱分布,积分上下限λ min 、λ max 为Nd:YAG晶体吸收截面左右两边的极限波长值;S2、根据修正后Nd:YAG晶体的等效吸收截面,选取LD泵浦源的工作波长点,根据(2)式将工作波长点转换到对应的工作温度点;其中,T 0 为中心波长标定温度点;λ 0 为T 0 时LD泵浦源的中心波长;α为LD泵浦源的温度漂移系数;λ为工作波长点;S3、对于S2获得的工作温度点,当工作环境温度更靠近哪个温度点,温控系统的目标温度就设置为该工作温度点;其中,所述根据修正后Nd:YAG晶体的等效吸收截面,选取LD泵浦源的工作波长点具体包括:选择水平线与等效吸收截面的交点位置作为LD泵浦源的工作波长点。
2.如权利要求1所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,所述步骤S1中对于中心波长在790nm——830nm间,光谱半高宽度为4nm的LD泵浦源,以指数吸收模型为基础,根据(1)式对实际等效吸收截面进行修正。
3.如权利要求1所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,所述步骤S1中,对于单色LD泵浦源,f(λ)采用高斯分布。
4.如权利要求1-3任一项所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,所述步骤S2中,修正后Nd:YAG晶体的等效吸收截面的最大吸收截面在809nm处。
5.如权利要求1所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,工作波长点为793.21nm,795.93nm,803.73nm,813.81nm。
6.如权利要求1所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,水平线的上下位置决定了相邻工作点距离的最大值,该最大值随着水平线的位置变化,当该最大值取得最小值时,获得系统最优工作波长点。
7.如权利要求1所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,Nd:YAG晶体在各个工作波长点对泵浦光的等效吸收截面为1.30×10 -20 cm 2 ,为最大等效吸收截面的1/2;当LD泵浦源在上述选定波长点工作时,由于等效吸收截面一致,晶体对泵浦光的吸收和晶体的热透镜将完全相同,最终激光器的输出将保持一致;通过设计合适的晶体参杂浓度和晶体吸收长度,晶体对泵浦光的总吸收率得到满足,保证激光器系统的能量利用效率。
8.如权利要求1所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,LD泵浦源波长随温度的飘漂移系数为0.28nm/℃。
9.如权利要求5-8任一项所述的半导体泵浦Nd:YAG激光器多温度点工作温控方法,其特征在于,所述步骤S3还包括:在各温度点进行电流补偿:先选定工作点,然后根据输出激光能量,调节LD泵浦源工作电流。