1.一种激光探测线性自动校准方法，其特征在于，所述校准方法基于一种激光探测线性自动校准装置进行校准，所述校准装置包括：稳定激光束(1)、准直缩束光学系统(2)、电控渐变衰减器(3)、多片固定倍率电控衰减器(4)、微反射镜阵列(5)、被校探测器(6)、标准探测器(7)、电脑控制端(8)，稳定激光束(1)经准直缩束光学系统(2)输出准直小口径激光束，经电控渐变衰减器(3)以及多片固定倍率电控衰减器(4)，照射到微反射镜阵列(5)上；微反射镜阵列(5)设置控制全开时，即由电脑控制端(8)输出全白图像，激光束反射到被校探测器(7)；微反射镜阵列(5)设置控制全关时，即由电脑控制端(8)输出全黑图像，激光束反射到标准探测器(6)；所述电控渐变衰减器(3)产生30dB连续衰减调节；所述固定倍率电控衰减器(4)包括五片20dB衰减递增的衰减片，最大衰减为100dB；所述微反射镜阵列(5)选择靶面小于8mm，分辨率1024×760；所述微反射镜阵列(5)中，每个微镜单元包含反射镜，反射镜采用铝制平面镜，在可见光波段和红外波段高反；所述微反射镜阵列(5)中，反射镜沿着对角线方向翻转，翻转角度为+12°和-12°，分别代表着“开”和“关”状态；所述校准方法的过程为：由电脑控制端(8)根据校准量程控制多片固定倍率电控衰减器(4)，输出被校量程激光束最大值；再控制电控渐变衰减器(3)在量程中进行细分；微反射镜阵列(5)设置控制全开，电脑控制端(8)读取被校探测器(7)测量激光能量值Q 1 ，微反射镜阵列(5)设置控制全关，电脑控制端(8)读取标准探测器(6)测量激光能量值Q 2 ，将Q 2 值赋值给被校探测器；根据黑白图控制微反射镜阵列(5)微反射镜阵列开关的数量，当满足设定图像与该图像取反时，被校探测器(7)输出激光能量值相同，即为Q 2 /2值，赋值给被校探测器(7)；调节电控渐变衰减器(3)，以及多片固定倍率电控衰减器(4)，自动重复操作，得到被校探测器(7)整个测量量程中的线性赋值曲线，再通过向微反射镜阵列(5)输出不同比例黑白图进行验证。
2.如权利要求1所述的激光探测线性自动校准方法，其特征在于，进行被校探测器修正系数校准时，首先设置微反射镜阵列全关，激光束反射到标准探测器(6)上，以标准探测器(6)溯源校准证书出具的校准点为准，调节衰减量，激光能量到达校准点值±5％范围内，作为线性校准的起始点；设置微反射镜阵列(5)全开，激光束反射到被校探测器(7)，记录激光能量测量值Q 1 ；设置微反射镜阵列全关，激光束反射到标准探测器，记录激光能量测量值Q 2 ；得到修正系数校准值：式中： ——Q 2 能量点处被校探测器修正系数校准值；Q 1 ——被校探测器能量测量值，J；Q 2 ——标准探测器校准点能量测量值，J。
3.如权利要求2所述的激光探测线性自动校准方法，其特征在于，根据黑白图控制微反射镜阵列微反射镜开关数量，当满足设定图像与该图像取反时，被校探测器输出激光能量值相同，测量值为Q 11 ，而标准值则为Q 2 /2值，将标准值以修正系数形式赋值给被校探测器： ——Q 2 /2能量点处被校探测器修正系数标准值；Q 11 ——被校探测器能量测量值，J；设置微反射镜阵列全开，调节衰减量，激光能量到达Q 2 /2值±5％范围内，记录被校探测器测量值，再取50％激光，记录测量值；重复n次后，可校准到Q 1 /2 n 量值。
