一种元器件外观缺陷的检测方法及系统

本申请提供一种元器件外观缺陷的检测方法及系统，其中，所述方法包括：获取待检测元器件的表面图像数据；对表面图像数据进行预处理，得到目标图像数据；将目标图像数据输入图像检测模型中，对待检测元器件进行定位，输出元器件前景图像；将元器件前景图像输入预训练过的图像检测模型中，输出带有缺陷检测结果的结果图像数据。本检测方法及系统，通过图像检测模型对元器件的外观缺陷进行检测，并且可以得到带有缺陷检测结果的结果图像数据。不仅可以对缺陷类型进行判断，还可以给出缺陷的位置信息，检测精度高、检测时间短、智能化程度高，可以避免因人的经验及主观因素导致的漏判或错判现象的发生。