1.一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，包括顺序连接的保偏器件第一光纤耦合器、相位调制器、第二光纤耦合器、第三光纤耦合器、高速光电探测器、高通滤波器、功率探测器和比较器，其中单频激光注入进第一光纤耦合器，经过第一光纤耦合器分成两束，两束中的一束经第三光纤耦合器的第一分束臂到达第三光纤耦合器，两束中的另一束输出到相位调制器，射频信号注入相位调制器，随后输出到第二光纤耦合器，再次分为两束，其中一束对外输出，另一束经第三光纤耦合器的第二分束臂到达第三光纤耦合器， 与第三光纤耦合器第一分束臂的激光进行合束后，注入到高速光电探测器，高速光电探测器接收第三光纤耦合器的激光，经光电转换，形成电信号，经过高通滤波器进行滤波，随后到达功率探测器，功率探测器依据注入电信号的功率输出对应电平到比较器，比较器将该电平与参考电平进行判断，输出展宽状态判断电平。
2.根据权利要求1所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，所述第一光纤耦合器、第二光纤耦合器的分束比为1:99-5:95、第三光纤耦合器的分束比为50:50。
3. 根据权利要求2所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于， 所述第一光纤耦合器的分束比小于第二光纤耦合器的分束比。
4.根据权利要求1所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，所述高速光电探测器的响应速率大于1GHz。
5.根据权利要求1所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，所述高通滤波器为电滤波器，电滤波器的低端截止频率大于500MHz。
6.根据权利要求1所述的窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置，其特征在于，所述功率探测器为射频功率探测器，射频功率探测器的响应带宽大于1GHz。
7.用权利要求1-6任意一项所述窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：1）单频激光注入到第一光纤耦合器，第一光纤耦合器分出一部分单频激光到第三光纤耦合器，其余部分激光经相位调制器进行相位调制，实现光谱展宽；2）展宽后的激光经第二光纤耦合器分出一部分激光到第三光纤耦合器，其余部分激光对外输出；3）第三光纤耦合器将单频激光和相位调制展宽后的激光进行合束，并注入到高速光电探测器中；4）采用高速光电探测器将光信号转换为电信号，并通过高通滤波器滤除直流成分，再由功率探测器检测剩余交流成分的功率水平，并获得对应电平输出；5）功率探测器输出的电平信号与设置的参考电平信号进行比较，从而输出判断电平、实现光谱展宽状态判断。
