1.一种辐射成像系统，包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与所述光电二极管探测器连接，被配置为根据所述第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于所述光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过所述光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与所述计数探测器连接，被配置为根据所述第二探测信号和预定计数放大系数，获取计数探测信号，将计数探测信号与多个预定计数阈值比较，在所述计数探测信号大于所述预定计数阈值的情况下，分别输出对应每个预定计数阈值的计数信号，分别统计对应每个预定计数阈值的计数信号，获取对应每个预定计数阈值的计数数据，根据计数数据分别生成对应每个预定计数阈值的计数成像数据，其中，所述预定计数阈值为比较器的参数；积分成像设备，被配置为根据所述第二探测信号生成积分成像数据；和图像融合装置，被配置为根据所述第一成像数据和所述计数成像数据，获取第一融合图像；根据所述计数成像数据和所述积分成像数据，获取第二融合图像。
2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述计数成像设备包括：计数放大器，被配置为根据所述第二探测信号和预定计数放大系数，输出计数探测信号；比较器，与所述计数放大器连接，被配置为将所述计数探测信号与预定计数阈值比较，在所述计数探测信号大于所述预定计数阈值的情况下向计数器输出计数信号；所述计数器，被配置为统计所述比较器输出的所述计数信号，获取计数数据；和计数成像装置，被配置为根据所述计数数据生成所述计数成像数据。
3.根据权利要求2所述的系统，还包括：物质识别设备，被配置为根据对应每个所述预定计数阈值的所述计数成像数据，识别射线穿过的被测物体的物质种类，并输出物质种类信息。
4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述图像融合装置还被配置为根据所述积分成像数据、所述第一成像数据和所述计数成像数据，获取第三融合图像。
5.根据权利要求1或4所述的系统，其中，所述图像融合装置还被配置为根据所述积分成像数据和所述第一成像数据，获取第四融合图像。
6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述积分成像设备包括：积分器，被配置为根据所述第二探测信号执行积分操作，输出积分数据；模数转换器，被配置为根据所述积分数据生成积分数字信号；和积分成像装置，被配置为根据所述积分数字信号生成所述积分成像数据。
7.根据权利要求1所述的系统，还包括：一级放大器，位于所述计数探测器与所述计数成像设备，以及所述计数探测器与所述积分成像设备之间，被配置为根据预定积分放大系数放大所述第二探测信号，生成积分探测信号，并输出给所述计数成像设备和所述积分成像设备。
8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述计数探测器包括硅光电倍增管SiPM探测器或碲锌镉CZT探测器。
9.一种辐射成像方法，包括：通过光电二极管探测器接收来自射线源的射线，生成第一探测信号，并根据所述第一探测信号生成第一成像数据；通过计数探测器接收穿过所述光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号，并根据所述第二探测信号和预定计数放大系数，获取计数探测信号，将计数探测信号与多个预定计数阈值比较，在所述计数探测信号大于所述预定计数阈值的情况下，分别输出对应每个预定计数阈值的计数信号，分别统计对应每个预定计数阈值的计数信号，获取对应每个预定计数阈值的计数数据，根据计数数据分别生成对应每个预定计数阈值的计数成像数据，其中，所述预定计数阈值为比较器的参数；根据所述第二探测信号生成积分成像数据；和根据所述第一成像数据和所述计数成像数据，获取第一融合图像；根据所述计数成像数据和所述积分成像数据，获取第二融合图像。
10.根据权利要求9所述的方法，还包括：根据对应每个所述预定计数阈值的所述计数成像数据，识别射线穿过的被测物体的物质种类，并输出物质种类信息。
11.根据权利要求9所述的方法，还包括：根据所述积分成像数据、所述第一成像数据和所述计数成像数据，获取第三融合图像。
12.根据权利要求9或11所述的方法，还包括：根据所述积分成像数据和所述第一成像数据，获取第四融合图像。
13.根据权利要求9所述的方法，其中，所述根据所述第二探测信号生成积分成像数据包括：根据所述第二探测信号执行积分操作，输出积分数据；根据所述积分数据生成积分数字信号；和根据所述积分数字信号生成所述积分成像数据。
14.根据权利要求9所述的方法，还包括：在所述计数探测器生成所述第二探测信号后，通过一级放大器，根据预定积分放大系数放大所述第二探测信号，生成积分探测信号；所述根据所述第二探测信号生成计数成像数据包括：根据预定计数放大系数放大所述积分探测信号，获取计数探测信号，以便根据所述计数探测信号生成计数成像数据；所述根据所述第二探测信号生成积分成像数据包括：根据所述积分探测信号生成积分成像数据。
