1.一种射线成像系统，其特征在于，包括：探测器，所述探测器安装于探测器臂架上，所述探测器臂架形成在第一平面内；以及射线源，所述射线源与所述第一平面不共面，所述探测器臂架包括安装探测器的第一探测器臂架和至少一个第二探测器臂架，还包括图像处理装置，所述图像处理装置根据所述射线源的靶点、所述第一探测器臂架和所述第二探测器臂架的位置、被检测物的移动速度以及所述第一探测器臂架和所述第二探测器臂架的检测值获取校正后的检测图像，所述图像处理装置包括：投影获取部，其获取所述靶点、所述第二探测器臂架在垂直于所述第一平面和第二平面的垂直平面上的投影，所述第二平面是所述靶点与所述第一探测器臂架构成的平面；时间偏差校正部，利用与所述第一平面和第二平面垂直的平面上的投影获取所述第一平面与所述第二平面的夹角，并根据所述夹角来校正检测数据由于所述被检测物在传送方向上从所述第一平面到所述第二平面的距离而产生的时间偏差；以及空间偏差校正部，对所述第二探测器臂架上各像素在所述第二平面的所述投影的检测值进行空间偏差的校正，并基于校正后的检测值与所述第一探测器臂架的检测值生成最终的被检测物的图像。
2.如权利要求1所述的射线成像系统，其特征在于，所述时间偏差校正部包括：夹角计算部，利用所述垂直平面计算所述第二探测器臂架与投影探测器臂架之间的所述夹角，所述投影探测器臂架是在所述被检测物的运送方向上所述第二探测器臂架在第二平面上的投影；偏差比例计算部，根据所述夹角、预先设定的被检测物的等效高度、被检测物的移动速度，计算在所述被检测物的运送方向上所述第二探测器臂架的探测器与其投影相差的偏差距离相对于所述等效高度的所述第二探测器臂架的探测器与其投影相差的参考偏差距离的比例；以及检测数据校正部，针对所述第二探测器臂架中的所述探测器采集的检测数据的时间序列，根据所述比例以及探测源的时间采样周期对获取的所述检测数据的时间序列的时间偏差进行校正，从而得到校正后的时间偏差校正数据。
3.如权利要求2所述的射线成像系统，其特征在于，所述空间偏差校正部再次将所述投影探测器臂架投影到与所述第一探测器臂架相同的直线上，获取所述最终的所述被检测物的图像。
4.如权利要求2或3所述的射线成像系统，其特征在于，通过插值法获取采样时间以外的时间点的所述检测数据。
5.如权利要求4所述的射线成像系统，其特征在于，所述插值法为最邻近插值法、线性插值法、二次插值法中的一种。
6.如权利要求1所述的射线成像系统，其特征在于，包含位于不同平面的多排所述探测器，多个所述第二探测器臂架位于第二平面内。
7.如权利要求6所述的射线成像系统，其特征在于，所述图像处理装置包括：采样点确定部，选择多排探测器中一排探测器，获取所述一排探测器的从所述第一探测器臂架与所述第二探测器臂架的交点延伸的延长线上的多个采样点；交点获取部，分别获取所述射线源的靶点与所述多个采样点的连线同所述第二平面的交点；采样点像素值获取部，根据所述第二平面中各探测器像素的位置及其检测值求出多个所述交点的检测值，作为多个所述采样点的检测值；以及图像获取部，根据多个所述采样点的检测值与所述第一探测器臂架上的探测器的检测值生成所述被检测物的图像。
8.如权利要求6所述的射线成像系统，其特征在于，所述图像处理装置包括：投影点确定部，选择多排探测器中的一排探测器，在所述射线源的靶点与所述一排探测器的所述第一探测器臂架构成的投影平面中，获取处于相对于所述第二平面而位于与所述第一探测器臂架相反侧的所述投影平面中的、且与所述第二平面存在交点的任意一点，作为所述投影点；交点获取部，获取所述靶点与所述投影点的连线同所述第二平面的交点；投影点像素值获取部，根据所述第二平面中各探测器像素的位置及其检测值求出所述交点的检测值，作为所述投影点的检测值；以及校正图像获取部，将所述投影点的检测值进行校正，并根据校正后的检测值与所述一排探测器的所述第一探测器臂架上的探测器的检测值生成校正后的被检测物的图像。
9.如权利要求7或8所述的射线成像系统，其特征在于，通过插值法获取所述交点的所述检测值。
10.如权利要求9所述的射线成像系统，其特征在于，所述插值法为最邻近插值法、线性插值法、二次插值法中的一种。
11.如权利要求7或8所述的射线成像系统，其特征在于，所选择的一排探测器距离所述射线源越远，所述被检测物的图像的成像范围越大。
12.如权利要求7所述的射线成像系统，其特征在于，所述采样点是等间隔的或者是任意间隔的。
13.如权利要求7或8所述的射线成像系统，其特征在于，所述多排探测器的之间具有相等的间隔或不相等的间隔。
14.如权利要求1所述的射线成像系统，其特征在于，所述探测器为直线状排布或呈弧状排布。
15.如权利要求14所述的射线成像系统，其特征在于，在所述探测器呈弧状排布时，所述第一探测器臂架是安装有单个探测器的部分或者是安装有呈直线的多个探测器的单个模块。
16.一种射线成像方法，用于权利要求1所述的射线成像系统，包括：投影获取步骤，其获取所述靶点与所述第二探测器臂架在垂直于所述第一平面和第二平面的垂直平面上的投影，所述第二平面是所述靶点与所述第一探测器臂架构成的平面；时间偏差校正步骤，利用所述垂直平面上的投影获取所述第一平面与所述第二平面的夹角，并根据所述夹角来校正检测数据由于所述被检测物在传送方向上从所述第一平面到所述第二平面的距离而产生的时间偏差；以及空间偏差校正步骤，对所述第二探测器臂架上各像素在所述第二平面的所述投影的检测值进行空间偏差的校正，并基于校正后的检测值与所述第一探测器臂架的检测值生成最终的被检测物的图像。
17.如权利要求16所述的射线成像方法，其特征在于，所述时间偏差校正步骤包括：夹角计算步骤，利用所述垂直平面计算所述第二探测器臂架与投影探测器臂架之间的所述夹角，所述投影探测器臂架是在所述被检测物的运送方向上所述第二探测器臂架在第二平面上的投影；偏差比例计算步骤，根据所述夹角、预先设定的被检测物的等效高度、被检测物的移动速度，计算在所述被检测物的传送方向上所述第二探测器臂架的探测器与其投影相差的偏差距离相对于所述等效高度的所述第二探测器臂架的探测器与其投影相差的参考偏差距离的比例；以及检测数据校正步骤，针对所述第二探测器臂架中的所述探测器采集的检测数据的时间序列，根据所述比例以及射线源的时间采样周期对获取的所述检测数据的时间序列的时间偏差进行校正，从而得到校正后的时间偏差校正数据。
18.权利要求17所述的射线成像方法，其特征在于，在所述空间偏差校正步骤中，再次将所述投影探测器臂架投影到与所述第一探测器臂架相同的直线上，获取所述最终的所述被检测物的图像。
19.一种射线成像方法，用于权利要求6所述的射线成像系统，包括：采样点确定步骤，选择多排探测器中一排探测器，获取所述一排探测器的从所述第一探测器臂架与所述第二探测器臂架的交点延伸的延长线上的多个采样点；交点获取步骤，分别获取所述射线源的靶点与所述多个采样点的连线同所述第二平面的交点；采样点像素值获取步骤，根据所述第二平面中各探测器像素的位置及其检测值求出多个所述交点的检测值，作为多个所述采样点的检测值；图像获取步骤，根据多个所述采样点的检测值与所述第一探测器臂架上的探测器的检测值生成所述被检测物的图像。
20.一种射线成像方法，用于权利要求6所述的射线成像系统，包括：投影点投影确定步骤，选择多排探测器中的一排探测器，在所述射线源的靶点与所述一排探测器的所述第一探测器臂架构成的投影平面中，获取处于相对于所述第二平面而位于与所述第一探测器臂架相反侧的所述投影平面中的、且与所述第二平面存在交点的任意一点，作为所述投影点；交点获取步骤，获取所述靶点与所述投影点的连线同所述第二平面的交点；投影点像素值获取步骤，根据所述第二平面中各探测器像素的位置及其检测值求出所述交点的检测值，作为所述投影点的检测值；以及校正图像获取步骤，将所述投影点的检测值进行校正，并根据校正后的检测值与所述一排探测器的所述第一探测器臂架上的探测器的检测值生成校正后的被检测物的图像。
