1.基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法，其特征在于，包括步骤：对被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据进行时域预处理，提取被测对象中扩展目标的相关散射信号，所述扩展目标为被测对象中具有一定长度和角度的直线形缺陷；根据所述扩展目标的相关散射信号进行超分辨率成像，获取扩展目标的超分辨率超声图像；对所述超分辨率超声图像进行图像特征分析和扩展目标参数评估，获取扩展目标的长度和角度，具体包括步骤：设定强度阈值，寻找超分辨率超声图像中强度大于等于阈值的像素点集合，获取集合中各像素点对应的坐标；根据像素点集合以及集合中各像素点对应的坐标，绘制超分辨率图像强度等高线图；在所述等高线图中寻找左端强度最大值和右端强度最大值对应的像素点，将两个像素点的坐标分别定义为扩展目标两端位置的评估坐标；基于扩展目标两端位置的评估坐标计算扩展目标的长度和角度。
2.根据权利要求1所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法，其特征在于，所述对被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据进行时域预处理，提取被测对象中扩展目标的相关散射信号，包括步骤：根据被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据获取被测对象的原始超声图像；在所得的原始超声图像中判断扩展目标出现的区域，并设置矩形框覆盖所述区域形成扩展目标区域；根据线性阵列传感器阵元位置以及扩展目标区域，结合超声波在被测对象中的传播速度，计算并定义时域窗函数；利用所述时域窗函数对被测对象的所有超声回波信号进行时域预处理，提取扩展目标相关散射信号。
3.根据权利要求2所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法，其特征在于，根据被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据获取被测对象的原始超声图像，具体包括：利用延迟叠加方法处理被测对象的所有超声回波信号，获取被测对象的原始超声图像。
4.根据权利要求2所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法，其特征在于，所述对被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据进行时域预处理，提取被测对象中扩展目标的相关散射信号，还包括步骤：将线性阵列传感器与所述被测对象直接耦合，所述被测对象内部包含扩展目标，作为成像对象；选取线性阵列传感器的任意一对阵元组合分别作为激励和接收阵元，获取超声回波信号；依次执行，直至所述线性阵列传感器的所有阵元组合均获取超声回波信号后，将获取的所有超声回波信号构成全矩阵采集数据。
5.根据权利要求1中所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法，其特征在于，根据所述扩展目标的相关散射信号进行超分辨率成像，获取扩展目标的超分辨率超声图像，包括步骤：对扩展目标相关散射信号进行时域-频域转换，构建给定频率带宽范围内的阵列响应矩阵，并对其进行奇异值分解，获取奇异值以及对应的奇异向量；基于给定频率带宽范围内奇异值的分布规律，将奇异向量划分为信号子空间和噪声子空间；定义方向矢量，基于所述信号子空间和方向矢量，给PC-MUSIC成像函数，获取扩展目标的超分辨率超声图像。
6.根据权利要求1所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法，其特征在于，对所述超分辨率超声图像进行图像特征分析和扩展目标参数评估，获取扩展目标的长度和角度，还包括步骤：根据计算所得的扩展目标的计算长度和计算角度与扩展目标的实测所得的实际长度和实际角度，得到扩展目标的计算长度误差和计算角度误差。
7.一种基于超分辨率超声图像的缺陷量化装置，其特征在于，包括：散射信号提取模块，用于对被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据进行时域预处理，提取被测对象中扩展目标的相关散射信号，所述扩展目标为被测对象中具有一定长度和角度的直线形缺陷；超分辨率成像模块，用于根据所述扩展目标的相关散射信号进行超分辨率成像，获取扩展目标的超分辨率超声图像；扩展目标参数评估模块，用于对所述超分辨率超声图像进行图像特征分析和扩展目标参数评估，获取扩展目标的长度和角度，具体包括步骤：设定强度阈值，寻找超分辨率超声图像中强度大于等于阈值的像素点集合，获取集合中各像素点对应的坐标；根据像素点集合以及集合中各像素点对应的坐标，绘制超分辨率图像强度等高线图；在所述等高线图中寻找左端强度最大值和右端强度最大值对应的像素点，将两个像素点的坐标分别定义为扩展目标两端位置的评估坐标；基于扩展目标两端位置的评估坐标计算扩展目标的长度和角度。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6中任一项所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法。
9.一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，在所述程序运行时控制所述存储介质所在的设备执行如权利要求1至6中任一项所述的基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法。
