一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统

1.一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法，所述方法包括：获取电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，每组测试数据对应一种算法，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；根据每组测试数据的响应时间及对应算法的权重比例，确定电力芯片的响应时间。 2.根据权利要求1所述的方法，所述测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。 3.根据权利要求1所述的方法，所述测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。 4.根据权利要求3所述的方法，所述c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。 5.根据权利要求1所述的方法，所述方法，还包括：去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；所述无效数据为偏离数据区间的数据。 6.一种适用于电力安全芯片响应时间的测试系统，所述系统包括：初始单元，设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；数据采集单元，针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，每组测试数据对应一种算法，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；计算单元，根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；输出单元，根据每组测试数据的响应时间及对应算法的权重比例，确定电力芯片的响应时间。 7.根据权利要求6所述的系统，所述测试数据的响应时间为发送测试数据的时间与接收反馈数据的时间的差值。 8.根据权利要求6所述的系统，所述测试数据通过c语言编写的软件生成并发送。 9.根据权利要求8所述的系统，所述c语言编写的软件通过SPI通讯总线连接电力芯片。 10.根据权利要求6所述的系统，所述计算单元还用于，去除确定的每组测试数据的响应时间中的无效数据；所述无效数据为偏离数据区间的数据。