1.一种测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述测试工装包括底座、顶座和压板；所述底座设有若干个上部粗，下部细的台阶孔，用于放置测试针，中间设置通孔，用于放置螺丝以便固定底座和顶座，所述底座两侧挖空，并各安装一个不锈钢连接杆，用于连接压板；所述底座另外两侧有两个安装孔，用于将所述测试工装安装至测试电路板上；所述顶座设有若干个上部细，下部粗的台阶孔，用于放置测试针和器件管脚，中间设置通孔，用于放置螺丝以便固定底座和顶座；所述压板中间为一个圆孔，该圆孔直径大于器件管帽直径且小于器件最大外径，以便在器件放置于所述顶座上时压接固定器件；两侧分别有一个可旋转的侧壁，侧壁底部为钩状，用于钩住底座的连接杆，使被测器件与测试针保持紧密连接。
2.如权利要求1所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述底座选用聚四氟乙烯材质。
3.如权利要求1所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述底座的台阶孔的上部孔径大于测试针上部直径，下部孔径小于测试针上部直径，大于测试针下部直径。
4.如权利要求1所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述顶座选用聚四氟乙烯材质。
5.如权利要求1所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述顶座的台阶孔的上部孔径小于测试针上部直径，大于器件管脚直径，下部孔径大于测试针上部直径。
6.如权利要求1所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述底座和所述顶座均在中间有两个通孔，用于放置螺丝以便固定所述底座和所述顶座，放置两颗螺丝可以防止底座相对顶座发生旋转。
7.如权利要求1所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述压板选用不锈钢材质。
8.如权利要求1-7任一项所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述测试针是弹簧压接式测试针，上下有很大的弹簧行程。
9.如权利要求1-7任一项所述的测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，其特征在于，所述底座和所述顶座的台阶孔的数目和器件管脚数目一致。
