有效

基于非均匀介质的微动探测方法、装置、设备及存储介质

张邦、陈尚勇、刘铁、刘铁华、化希瑞、卞友艳、陈应君、刘剑、柳青、李凯、雷理、韦德江、蔡盛、卿志、杨正国
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张邦 专利 73
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地震勘探地球物理探测测量与测试
陈尚勇 专利 48
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地基与地下工程水利基础疏浚道路铁路桥梁工程
刘铁 专利 107
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地震勘探地球物理探测测量与测试
刘铁华 专利 95
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地震勘探地球物理探测测量与测试
化希瑞 专利 93
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地震勘探地球物理探测测量与测试
卞友艳 专利 45
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地球物理探测测量与测试物理仪器
陈应君 专利 28
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地球物理探测测量与测试物理仪器
刘剑 专利 26
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测量与测试物理仪器地球物理探测
柳青 专利 11
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地球物理探测地震勘探测量与测试
李凯 专利 47
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地球物理探测测量与测试物理仪器
雷理 专利 34
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测量与测试地球物理探测物理仪器
韦德江 专利 15
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地球物理探测测量与测试物理仪器
蔡盛 专利 49
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地球物理探测测量与测试物理仪器
卿志 专利 19
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地球物理探测测量与测试物理仪器
杨正国 专利 15
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测量与测试地球物理探测地震勘探

摘要

本发明公开了一种基于非均匀介质的微动探测方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取非均匀介质模型中的多个模拟检测点,确定各模拟检测点的一维谱比曲线,确定多个不同频率的微动信号在所述非均匀介质模型中的影响区域,以及第一微动信号对应的影响区域内的多个目标模拟检测点,基于所述多个目标模拟检测点与第一目标模拟检测点之间的距离确定对应于各个目标模拟检测点的加权系数,基于各个目标模拟检测点的加权系数以及各个目标模拟检测点对应的一维谱比曲线,确定所述第一目标模拟检测点的综合谱比曲线。本发明通过对多个检测点按距离加权,实现了对非均匀介质的微动综合谱比曲线的计算,从而更好地探测实际复杂地质结构。