1.一种表盘指针示数读取方法，其特征在于，所述读取方法包括：根据图像采集部件采集的图像信息，确定仪表盘面元素的仪表参数，所述仪表参数包括表盘刻度区覆盖角Φ、刻度间隔角φ、表盘满量程读数Γ，其中Φ≈φ*N，N为表盘刻度区间数目；执行以下步骤，且在执行以下任意步骤失败时，由工控机判定待测液压表的运行异常：根据所述图像信息的灰度图像，确定表盘中心及表盘半径；根据所述表盘中心及表盘半径，确定表盘刻度区的覆盖角范围；根据所述图像信息的二值化图像、表盘中心及表盘半径，确定指针朝向；根据表盘刻度区的覆盖角范围、指针朝向及仪表参数，确定表盘指针读数；其中，所述根据所述图像信息的灰度图像，确定表盘中心及表盘半径，具体包括：对所述图像信息的灰度图像进行二值化处理，得到第一二值化图像；根据所述第一二值化图像，得到轮廓集合；对所述轮廓集合中的元素聚类，得到表盘中心的粗定位center′(x,y)和半径radius，其中，(x，y)表示坐标；具体包括：(11)构造聚类的第一个元素，以轮廓集合中第一个圆的圆心和半径为第一个聚类元素cc 1 的圆心和半径，元素聚类集合CC＝{cc 1 }；(12)遍历轮廓集合Cir，若圆cir i 与聚类元素cc k 的圆心距离d ik 同时满足d ik ＜R k /m和d ik ＜R i /m，则将圆cir i 归入聚类元素cc k 的圆包含中，若圆cir i 与所有聚类元素都不满足距离条件，则构造新的聚类元素，以圆cir i 的圆心和半径为该聚类元素的圆心和半径；轮廓集合Cir＝{cir 1 ,cir 2 ,…,cir n }，cir i ＝{p i (x,y),R}，p i (x,y)为第i个圆cir i 的圆心图像坐标，R i 为第i个圆cir i 的半径，m＝4；(13)所有轮廓集合Cir的圆遍历完成后，更新聚类集合CC＝{cc 1 ,cc 2 ,…,cc N }中聚类元素的圆心和半径，圆心更新方法为 其中 为聚类元素cc k 中包含的圆数目， 为聚类元素cc k 中包含的圆的圆心，半径更新方法为 其中 为聚类元素cc k 中包含的圆的半径，圆心和半径更新完毕后，清空聚类元素cc k 的圆包含；(14)重复步骤(12)-(13)5次；(15)以元素聚类集合CC＝{cc 1 ,cc 2 ,…,cc N }中包含圆数目最多的聚类的圆心和半径为仪表盘面的粗定位圆心center′和半径radius；确定所述图像信息的灰度图像的梯度图；对所述梯度图进行二值化处理，得到第二二值化图像；以粗定位center′(x,y)为中心，设定长度为边长或直径，确定局部第二二值化图像；以圆卷积核卷积局部第二二值化图像，确定响应值最大的像素位置为表盘中心的精确定位center(x,y)；具体包括：(21)初始化最大响应值respond max ＝0，初始卷积核边长edge＝7，构造卷积核：卷积核为：采用宽等于高的正方形卷积核，卷积核的边长edge为奇数，在卷积核正方形内切圆上的像素位设为1，其余部件设为0，卷积核的边长edge的取值范围为edge∈{7,9,…,L e }，L e 为不大于l/2的奇数，l＝radius/4；(22)以卷积核遍历卷积局部图像，若像素位置(x,y)处响应respond x,y ＞respond max ，则更新最大响应，记录最大响应的像素位置；(23)将卷积核边长edge增加2更新卷积核边长，重复步骤(22)，直到edge＝L e ；(24)以最大响应的像素位置为表盘中心的精确定位center(x,y)。
2.根据权利要求1所述的表盘指针示数读取方法，其特征在于，所述根据所述表盘中心及表盘半径，确定表盘刻度区的覆盖角范围，具体包括：根据所述表盘中心及表盘半径，将所述图像信息的灰度图像转换为极坐标图像；采用边缘提取结合邻域灰度差的方法对极坐标图像二值化，得到第三二值化图像；从所述第三二值化图像中提取候选刻度线集合；对所述候选刻度线集合中的刻度线聚类，计算每个聚类的覆盖角度；根据各覆盖角度，确定刻度区的覆盖角范围。
3.根据权利要求1所述的表盘指针示数读取方法，其特征在于，所述根据表盘刻度区的覆盖角范围、指针朝向及仪表参数，确定表盘指针读数，具体包括：根据以下公式，计算指针朝向与刻度区起始角的距离与刻度区覆盖角的比例：其中，angle_poiter表示指针朝向，scale_start表示刻度区起始角，scale_cover表示刻度区覆盖角；将所述比例乘以仪表参数中的刻度量程，得到表盘指针读数。
